储器。

应用程序在写入到存储器中后就开始执行，以便由单片机来执行。

单片机系统有可能不会像预期的那样工作。

在最不顺的情况下，这只是系统的小故障，单片机仍然能够通过串行口或并行口与测试设备对话。

测试设备就能够确定问题的性质，并准确地指出校正的类型软件和或硬件，将其应用到系统上，以便正确操作。

遗憾的是，基于单片机系统的多数故障导致整个系统死锁，阻止了任何与测试设备的对话。

这样就不能确定类型是硬件单片机本身外部只读存储器外围设备总线等还是软件应用程序的。

在系统死锁的情况下，采用的故障诊断方法通常以使用精密测试设备为基础，因而要求将探测仪连接到处于测试中的单片机系统的各种集成电路的管脚上。

采用测试设备对基于单片机的系统进行故障诊断，其相关问题还有很多。

由于电路体积小，布线密集，而测试设备中使用的探针容易损坏，用起来很麻烦，就可能与电路接触不好。

此外，由于成本高，这些测试设备不是批量生产。

结果，出故障的单片机系统就不能及时修复，不管它们此时安装在何处，首先必须送到有测试设备的地方。

单片机系统的这种故障诊断方式既费时又麻烦，成本也高。

在改变系统中单片机执行的应用程序时，为了避免直接在单片机系统上进行操作，常规的做法是用可下载的只读存储器来存储应用程序，即写入到单片机掩模中的装载程序。

单片机的掩模集成到单片机中，并在生产单片机时次性编程写入。

为了改变应用程序，单片机通过运行装载程序而重置。

这个装载程序能通过合适的传输线与连接到单片机的工作站通信，而工作站提供写入到单片机的新的应用程序。

装载程序接收新应用程序并存储到单片机的外部中。

尽管这种方法避免了对单片机系统的直接操作这需要从系统取出包含应用程序的可编程只读存储器，并用合适的编程设备将新的应用程序写进存储器，然后换到系统中，但是它仍然有个较大的缺点，即在生产中对单片机的特殊处理。

由于编程参数编程电压，外加电压的持续时间等随着采用的技术而变化，每种可编程存储器与对应的装载程序密切相关。

装载程序次性写进单片机内部的掩模存储器中，存储器因而就限制为装载程序要写入的存储器类型。

换而言之，单片机不是标准器件，这就增加了生产成本。

这发明就是为了克服先前技术的各种缺点。

准确地说，该发明的目的就是要提供种单片机产品，以便快速简单可靠低成本地验证单片机系统的操作。

这项发明的另个目的是提供种单片机芯片，在系统出现故障时，可以借助于单片机准确地定位系统中失效的器件。

这项发明的更高目的是提供种单片机芯片，在系统中能使用的存储器件为标准类型时，不用直接对单片机系统进行操作就可改变应用程序。

许多微电脑和微控制器包含二进制编码的十进制数据操作例如数据显示，因此，通常可以发现是很适合处理这种类型的数据。

也很常见，找到合适的设备进行检验，设置和重置单个位的内存或控制器的应用程序，包含打开和关闭的单输出线或读单线。

这些线很容易连接到二进制的设备，如开关，恒温器，固态继电器，阀门，电机等。

并行输入输出并行输入和输出的方案略有差别，在不同的微机，在大多数设立个机制，至少，，，，外文资料翻译译文单片机基础单片机是微电脑和集成电路共同发展的结晶，也是世纪有重要意义的发明。

这两种特性在单片机中得到了充分的体现。

些公司采用程序数据两种存储器。

其遵循的原理也广泛的适用于通用计算机，使用户感觉到没有程序内存和数据内存之间的区别。

总的来说，单片机的特点就是把所有单元集成到个芯片中。

只读存贮器通常是用于永久的非易失的应用程序存储。

许多的微处理器或者微控制器是大批量生产的，为了省钱，要求程序在生产时就永久地固化在存储器中。

显然，这就意味着代码的开发必须十分精确，因为旦生产出来就无法更改。

这种开发过程包括使用个复杂的开发系统，该系统包括硬件仿真能力以及功能强大的软件工具。

有的制造商通过在他们的产品系列中提供附加的用户可编程的内存。

其中最简单的是这么种器件，该期间工作在微处理器模式，利用输入输出线作为地址和数据总线访问外部存储器。

这种设备从单片机上派生出来，尽管带有受限制的和更改过的外部电路，在功能上表现为个单片机。

无的设备普遍使用，即使在产品电路中批量使得片内开发成本过高，和基于微处理器的传统电路相比还是可以显著地节省和其他芯片。

取代更为合理的种方式，可以通过使用各种背负式可擦写可编程插座或者用带的器件来取代。

这些器件自然会比较昂贵，但是能够提供完全同等的基于的器件对于小批量来们说也是有吸引力的，因为它们使用片内的，提供了单片器件的优势并有灵活的可编程的便利。

随机存取存储器是保存工作中使用的变量和数据的存储器。

类型随数据存储设备的大小不同而有所不同，但具有相同特征宽度的处理器比特等，特殊功能寄存器，如栈指针或定时器，通常纳入逻辑的区域。

它也在微型电脑的硬件中做内存，通常在物理上不区分内存和处理器。

中央处理单元是与任何微控制器相似。

读存储器中，所以可对单片机进行测试，而与应用程序无关，并保持系统中能用的存储器元件为标准类型。

准确地说，这项发明涉及单片机集成电路。

单片机通常是包含台计算机的全部或大部分元件的大规模集成电路，其功能不是预先确定的，而是取决于它执行的程序。

台单片机必然包含个含有命令时序发生器即根据程序的指令分配各种控制信号到其他元件的装置的处理器内核个算术逻辑单元用来处理数据和寄存器即特殊的存储单元。

然而，计算机的其他元件对单片机而言或是内部的，或是外部的。

换言之，其他元件就集成到单片机或辅助电路中。

计算机的这些其他元件是数据处理或存储装置，例如包含待执行程序的只读或随机存储器时钟和接口串行或并行。

基于单片机的系统通常包含个含有单片机的芯片和许多含有外部数据处理和或存储器件的芯片，这些芯片没有集成在单片机中。

例如，这种基于单片机的系统包含个或多个印刷电路板，上面安装着单片机和其他元件。

决定单片机系统所有操作的是应用程序，即由单片机执行的程序。

因此，每个应用程序都是针对特定的应用的。

在多数现实应用中，由于应用程序太大，单片机无法存储，因此就存储在单片机的外部存储器中。

这种只能读出而不能写入的程序存储器通常就是可编程只读存选择用词继蚀前与腐蚀后试样的质量的差试样的表面积，约为浸泡的时间，。

表为所计算的合金自腐蚀速率。

为了对比合金与纯铝，纯锌的自腐蚀速率，纯铝和纯锌在不同的电解液中自腐蚀速率计算如表，表所示。

表为纯铝在不同电解液中的自腐蚀速率，表为纯锌在不同电解液中的自腐蚀速率。

腐蚀溶液试样状态放电前质量放电后质量失重自腐蚀速率铸态变形铸态变形无水乙醇铸态变形腐蚀溶液腐蚀前质量腐蚀后质量失重表面积自腐蚀速率无水乙醇腐蚀溶液腐蚀前质量腐蚀后质量失重表关键。

曲线在腐蚀过程中，由于铝合金的表面生成了保护膜，阳极过程受到膜的阻碍，金属的溶解速度大为降低，结果使阳极电位向正方向剧烈变化，这种现象称为钝化。

钝化，即电阻极化，是造成合金的阳极极化的原因之，金属的电位往正方向移动。

阴极般没有电阻极化。

图为纯铝，纯锌及变形前后合金在溶液中的曲线。

在碱性溶液中，铝合金的腐蚀主要是由阳极反应所控制，合金发生电化学反应时阳极极化程度越大，则电极反应阻力越大，铝阳极电化学溶解放电过程受阻滞越严重。

这虽然在种程度上能减小铝阳极的腐蚀量，但对电池阳极而言却是非常不利的，因此必须尽量减少铝阳极的极化作用。

从图中可看出合金的电位相比纯铝，纯锌试样要负的多，尤其是变形试样。

，表为纯铝，纯锌及变形前后铝阳极合金在溶液中的自腐蚀电位和自腐蚀电流密度，由图中极化曲线获得。

铝合金的腐蚀电位反映其在热力学上的腐蚀倾向，而腐蚀电流密度则是表征其在动力学上的腐蚀速度。

由表可得，变形合金腐蚀电位达到最负，为，表明变形合金较易发生活化溶解。

由腐蚀电流密度变化可知，轧制后合金腐蚀电流密度降低，变形后合金试样的腐蚀电流密度最低，这表明轧制后铝合金腐蚀速率减小，耐腐蚀性增强，有利于提高合金利用率。

轧制后合金腐蚀速率减小可能是由于冷变形后合金中存在大量的位错，电极反应过程中形成的腐蚀产物容易粘附于错位塞积的位置，阻碍了离子通过，增加了反应阻力。

，试样纯铝纯锌铸态合金变形合金自腐蚀电位自腐蚀电流密度图为纯铝，纯锌及变形前后合金在无水乙醇溶液中的曲线。

从图中仍能观察到变形合金试样的腐蚀电位最负。

，表为纯铝，纯锌及变形前后合金在无水乙醇溶液溶液中的自腐蚀电位和自腐蚀电流密度，由图中极化曲线得到。

对比表表可发现，后者腐蚀电位均正移，且腐蚀电流密度均减小。

通过陈启元等人研究发现，乙醇能降低铝阳极在碱性体系中的自腐蚀速率，其原因是乙醇的质子活性比水小得多，抑制了析氢反应，导致析氢速率降低电极反应产物难以脱落，并在电极表面沉积，从而增大了合率升高，改善了铝合金的放电性能。

再者合金在电解液中的阳极利用率，特别是变形合金在远远超出均高于纯锌在碱溶液中的阳极利用率，则可以选用变形合金代替纯锌作阳极材料。

溶液试样状态放电前质量放电后质量电流失重阳极利用率纯锌铸态变形纯锌铸态变形纯锌铸态变形自腐蚀速率的的研究进展电池刘稚惠，李振亚静止电解液中性铝空气电池设计电源技术章宪电动车专用高能铝空气电池中国，实用新型吴安臣金属燃料电池通过科技成果鉴定创造田文增，陈小华储器。

应用程序在写入到存储器中后就开始执行，以便由单片机来执行。

单片机系统有可能不会像预期的那样工作。

在最不顺的情况下，这只是系统的小故障，单片机仍然能够通过串行口或并行口与测试设备对话。

测试设备就能够确定问题的性质，并准确地指出校正的类型软件和或硬件，将其应用到系统上，以便正确操作。

遗憾的是，基于单片机系统的多数故障导致整个系统死锁，阻止了任何与测试设备的对话。

这样就不能确定类型是硬件单片机本身外部只读存储器外围设备总线等还是软件应用程序的。

在系统死锁的情况下，采用的故障诊断方法通常以使用精密测试设备为基础，因而要求将探测仪连接到处于测试中的单片机系统的各种集成电路的管脚上。

采用测试设备对基于单片机的系统进行故障诊断，其相关问题还有很多。

由于电路体积小，布线密集，而测试设备中使用的探针容易损坏，用起来很麻烦，就可能与电路接触不好。

此外，由于成本高，这些测试设备不是批量生产。

结果，出故障的单片机系统就不能及时修复，不管它们此时安装在何处，首先必须送到有测试设备的地方。

单片机系统的这种故障诊断方式既费时又麻烦，成本也高。

在改变系统中单片机执行的应用程序时，为了避免直接在单片机系统上进行操作，常规的做法是用可下载的只读存储器来存储应用程序，即写入到单片机掩模中的装载程序。

单片机的掩模集成到单片机中，并在生产单片机时次性编程写入。

为了改变应用程序，单片机通过运行装载程序而重置。

这个装载程序能通过合适的传输线与连接到单片机的工作站通信，而工作站提供写入到单片机的新的应用程序。

装载程序接收新应用程序并存储到单片机的外部中。

尽管这种方法避免了对单片机系统的直接操作这需要从系统取出包含应用程序的可编程只读存储器，并用合适的编程设备将新的应用程序写进存储器，然后换到系统中，但是它仍然有个较大的缺点，即在生产中对单片机的特殊处理。

由于编程参数编程电压，外加电压的持续时间等随着采用的技术而变化，每种可编程存储器与对应的装载程序密切相关。

装载程序次性写进单片机内部的掩模存储器中，存储器因而就限制为装载程序要写入的存储器类型。

换而言之，单片机不是标准器件，这就增加了生产成本。

这发明就是为了克服先前技术的各种缺点。

准确地说，该发明的目的就是要提供种单片机产品，以便快速简单可靠低成本地验证单片机系统的操作。

这项发明的另个目的是提供种单片机芯片，在系统出现故障时，可以借助于单片机准确地定位系统中失效的器件。

这项发明的更高目的是提供种单片机芯片，在系统中能使用的存储器件为标准类型时，不用直接对单片机系统进行操作就可改变应用程序。

许多微电脑和微控制器包含二进制编码的十进制数据操作例如数据显示，因此，通常可以发现是很适合处理这种类型的数据。

也很常见，找到合适的设备进行检验，设置和重置单个位的内存或控制器的应用程序，包含打开和关闭的单输出线或读单线。

这些线很容易连接到二进制的设备，如开关，恒温器，固态继电器，阀门，电机等。

并行输入输出并行输入和输出的方案略有差别，在不同的微机，在大多数设立个