的静态直流动态交流参数的测试二类是功能测试对表征被子测器件性能的逻辑功能的测试。对被测电路或系统的测试频率维持在被测系统或电路的功能性操作频率水平，这种测试称为“真速测试”。可由测试器直接驱动的输入称为主输入，可以由测试器直接检测的输出称为主输出。如果在被测对象的主输入处同时施加组数据侦查或诊断出了故障，则称这组数据是故障的测试图形或测试矢量，或简称为个测试。借助定算法或工具，获得电路测试矢量的过程叫做测试生成。常将个测试所侦查的故障数与电路总故障数之比定为故障覆盖率。故障模型为了便于研究故障，须对故障进行分类，归纳出典型的故障，这个过程叫做故障的模型化。模型化故障是代表类对电路或系统有类似影响的典型故障。固定型故障固定型故障模型主要反映电路或系统中信号线的不可控性，即在系统运行过程中总是固定在逻辑值上。如果该线或该点固定在逻辑高电平上，则称之为固定故障，简记为如果该线固定在逻辑低电平上，则称之为固定故障，简记为。延迟故障所谓延迟故障，这就是指因电路延迟超过允许值而引起的故障。时延测试需要验证电路中任何通路的传输延迟，均不能超过系统时钟周期。桥接故障桥接故障可以表达两根或多根信号线之间的短接故障，这是种工艺中常出现的缺陷。按桥接故障发生的物理位置分为两大类，类是元件输入端间的桥接故障，另类是元件输入端和输出端之间的桥接故障，后者常称为反馈式桥接故障。暂态故障暂态故障是相对固定型故障而言。它有两种类型，即瞬态故障机接口。模块包含序列和数据产生部件及通道放大器。台仪器由多个数据模块组成，而每个模块又具有多个数据通道。用户可根据实际需要的通道数目购买，若需增加还可扩充。数字信号源具有个由压控振荡器控制的中央时钟发生器来作为内部标准时钟源，它通过可编程的二进制分频器产生低频数字信号，在高性能的数字信号源中，还使用锁相环来控制压控振荡器，以获得稳定性和精确度高的时钟。许多数字信号源还提供个外部时钟输入端，以便用被测系统的时钟来驱动。时钟分离电路可提供多个不同的时钟，分别送到各数据模块的时钟输入端。为减小抖动和降低噪声，可用同轴电缆或微带线来传输时钟信号，信号处理单元为各时钟同时提供个启动停止信号。该信号使数字信号源各模块的工作同步地启动或同步地停止。通常，简单的数字信号发生器就用时钟的开和关来启动和停止各数据通道。特征分析仪由于内测试的广泛使用，对每测试激励下的响应逐分析不仅是不必要的，有时甚至是难以实现的。因此，出现了特征分析技术，它是从被测电路的测试响应中提取出“特征”，通过对无故障特征和实际特征的比较进行故障的侦查和定位。但要通达事前的模拟建立好特征故障字典，才能用于故障诊断，这样就限制了它的使用范围。规约分析仪规约分析仪是常用的数字通信测试仪器。规约是描述没器件之间相互进行数据通信的规则和过程。规约分析仪可仔细地检查器件之间通信过程中所发生的切事件，同是对其是否符合通信规约做出测试。规约分析仪不仅可用于监测，而且还能发送信息。误码率测试仪误码率测试仪更是常用的数字测试仪器，其原理与应用将在最后节专门介绍。逻辑分析仪若数字系统测试中关心的是多个信号之间的逻辑关系及时间关系，传统的通用测试设备如示波器等由于受通道数较少等因数的限制，已无法满足数字系统的测试要求，逻辑分析仪有效地解决了复杂数字系统的检测和故障诊断。下面专门讨论。逻辑分析仪要求了解逻辑分析仪主要特点类型及主要技术指标。了解逻辑分析仪的基本结构和组成原理。掌握逻辑分析仪的触发与跟踪方式，基本显示方式。掌握逻辑分析仪在软硬件测试中的应用方法。概述随着数字系统复杂程度的增加，尤其是微处理器的高速发展，采用简单的逻辑电平设备测试已经不能满足测试要求了。逻辑分析仪对于数据有很强的选择能力和跟踪能力，能满足数字域测试的各种要求，成为数字系统进行逻辑分析的重要工具。逻辑分析仪的主要特点以荧光屏显示的方式表示出数字系统的运行情况，便于观察。有足够多的输入通道。可同时检查路甚至更多路信号。具有多种灵活的触发方式，确保对被观察数据流的准确定位。具有记忆功能，可以观测单次及非周期性数据信息，并可诊断随机故障。具有限定功能，可对数据进行挑选，删除无关数据。具有多种显示方式。如可用字符助记符汇编语言显示程序用二进制八进制十进制Ⅱ码等显示数据用定时图显示信息之间的时序。具有可靠的毛刺检测能力。逻辑分析仪的分类逻辑分析仪按其工作特点，可分为逻辑状态分析仪和逻辑定时分析仪两大类。这两类分析仪的基本结构是相同的，二者的主要区别在于显示方式和定时方式不同。逻辑状态分析仪主要用于系统的软件测试。逻辑定时分析仪主要用于数字系统的硬件测试。按照结构特点分类台式便携式卡式外接式等。逻辑分析仪的基本组成逻辑分析仪主要包括数据捕获和数据显示两大部分。数据捕获部分信号输入采样数据存储触发产生和时钟电路等。数据显示部分以适当方式波形或字符列表等将捕获的数据显示出来。第九章数据域测试技术当今信息社会，数字集成电路和计算机技术日益普及和发展，系统越来越庞大和复杂，为确保数字电路和系统的性能和可靠性，前面讨论的时域频域及调制域的测量，对于复杂的数字电路和集成电路，前述测量方法无法达到测量目的，所以就要求对数字电路和系统中的数据信息进行测量，这种测试技术统称为数据域测试技术。本章主要讲述数据域的基本概念数据域测试系统和测量仪器重点掌握逻辑分析仪的原理使用及数据域测试技术的具体应用。数据域测试的基本概念数据信息数据流首先要明确所测数字信号的种类信息只有两种逻辑状态的二进制符号或高低电平。数据字多位二进制信息组合构成的个数据。数据流大量数据字有序的集合。数据信息除了用离散的时间作为自变量外，还可以用事件序列作为自变量。在数据域分析中，通常关注的不是每条信号线上的电压的确切数值，而只需要知道处于低电平还是高电平以及各信号互相配合在整体上表示什么意义。通常认为数据域分析是研究数据流数据格式设备结构和用状态空间概念表征的数字系统的特征。概述数字系统的特点数字信号通常按时序传递。信号几乎都是多位传输的。信息的传输方式多种多样。数字信号的速度变化范围很宽。信号往往是单次的或非周期性的。数字系统故障判别与模拟系统不同。数据域测试特点，数字系统的响应与激励之间不是简单的线性关系。，随着数字集成电路集成度增长，常常不得不依靠少数外部测试点上所得到的有限测试结果去推断电路内部所发生的复杂过程。，在微机化数字系统中，除了由于硬件故障引起外部信息错乱外，还可能由于软件问题而导致异常输出。，在个数字系统的点上所发生的事件，往往经过若干个内部工作循环以后，才会在另点或输出端有所表现，甚至可能毫无表现。，由于数字信息几乎都是多位传输的，且数据流往往很长，许多信号仅发生次，而其中可能只有位，甚至只在瞬时出错，造成故障和出错不易辨认和捕获。数据域测试的任务与故障类型数据域测试的任务及相关术语对数字电路或系统的故障诊断是故障侦查或称故障检测，判断被测系统或电路中是否存在故障。二是故障定位，查明故障原因，性质和产生的位置。缺陷是指物质上的不完善性。故障缺陷引起电路异常操作称为故障，故障是缺陷的逻辑表现。物理故障被测件因构造特性的改变而产生个缺陷，称为物理故障。失效由于焊点开路，接线开路或短路等缺陷导致系统或电路产生错误的运作，称为失效。缺陷和故障两者之间不是对应的，有时个缺陷可等效于多个故障。出错或错误因故障而导致电路输出不正常，称出错或错误。电路中的故障或错误不定立即引起错误，如电路中引线发生固定为的故障，而该引线的正确逻辑也为，则电路虽发生故障，却未表现错误。对数字电路和或系统的性能测试分两类类是参数测试对表征被测器件性能的静态直流动态交流参数的测试二类是功能测试对表征被子测器件性能的逻辑功能的测试。对被测电路或系统的测试频率维持在被测系统或电路的功能性操作频率水平，这种测试称为“真速测试”。可由测试器直接驱动的输入称为主输入，可以由测试器直接检测的输出称为主输出。如果在被测对象的主输入处同时施加组数据侦查或诊断出了故障，则称这组数据是故障的测试图形或测试矢量，或简称为个测试。借助定算法或工具，获得电路测试矢量的过程叫做测试生成