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制定标准的计划推动并利用了当前和今后的研究技术，超越了 传统测试和测量系统的基本连接功能。
这些研究工作包括风格的界面局域 和广域连网，以及精确的定时同步功能。
对于其他通信接口而言，即仍然处于主导地位，这在很大程 度上是因为该标准已经问世近年了。
作为第个专门针对可编程仪器互连和 控制的网络协议，这并行接口已经被嵌入到市场上许多测试仪器上。
它的标称 数据速率是，在突发传输模式下最大为。
测试和测量应用中广为使用的另外种接口就是。
这种接口能够快速和 方便地连接到上，已经广泛应用在各种计算机外设中，例如，打印机鼠标 和数码相机。
实际上市场上所有的台式和便携式已经把作为标准配置。
这类接口在普通的操作系统如和下拥有完整的软件支持。
对于测试和测量应用而言，具有些得天独厚的优势。
通过插件板 的优势，接口可以使用户方便地开发测试和测量应用。
具有多种优势， 包括即插即用更强的抗噪性成本低廉携带方便。
具有全速和高速的数据传输速率。
配置了端口的计算机传输数 据的速度可以达到。
对于高性能的应用，高速的端口传输速度 达到了。
测试自动化 仅仅在几年以前，人们开始在产品应用中使用软件控制各种测试系统。
渐渐 的，测试台上所用的仪器开始配置软件，用户能够开发专用的测试程序，并在测 试仪器本身或上运行这些程序。
将计算机与测试仪器相连进行数据记录就可 以存储测试数据，因此制定和其他标准就显得非常必要了。
有些软件与测试仪器配套在起使用，例如，公司为 系列配置的和 公司为系列仪器配置的公司的 。
是个基于的应用软件，能够控制测试仪器，允许同时 使用多达台信号源和仪表实现数据采集计时电压和或电流的读数显示等 功能。
软件能够控制测试仪器，可以扫描多个通道，记录并显示数据。
与的示波器配套使用，能够捕捉并分析 数据，进行精确的抖动测量。
随着软件应用和可编程功能的推广，出现了众多标准通信接口，这些通信接 口使已记录数据的传输和收集工作变得更加便捷。
和就是其中的两个 例子。
在软件层上对测试仪器和不同总线包括串行链路和以太网 之间的通信进行了标准化处理。
可以使程序员和用户在同程序内选择不 同的通信总线。
是同类信号源等仪器的标准化层次。
例如，它允许的 响应的同类程序调用。
适用性 今天，测试仪器必须具有简便而快速的定制功能，以适应不同的测量任务。
特别的，对于工程周期较短和仪器成本预算比较紧张的情况来说，灵活性是必备 的特征。
基本的仪器可以裁剪成任意数量的专用测量工具，这有助于实现嵌入式功 能。
这种裁剪主要是使仪器能够反复实现特定数量的信号源和测量功能。
例如， 我们可以把台的仪器配置成热阻仪测试系统，或者小型的功能测试 器。
脉冲发生器的评价 最近几年，人们研制出了新的测试技术，以迎接业界新标准快速发展所带来 的挑战，例如半导体和通信技术。
脉冲测试就是其中种技术。
脉冲测试 高级半导体器件以及器件例如高速串行通信链路的测试广泛应用在 具有脉冲产生功能的仪器中。
无论是在实验室中还是在生产线上，脉冲生成器或 测试图案生成器都被广泛用于各种应用场合。
研究人员常常需要给待测器件加载单个脉冲或系列脉冲，或者以 特定速率加载些已知的数据矢量，从而测试器件的性能。
例如，脉冲发生器可 以产生单个脉冲，用于瞬态测试，判断该器件的传递函数，进而测试待测材料的 特性。
脉冲码型发生器常常配置在包含源测量单元数字万用表伏特计转 换器和示波器的测试系统。
脉冲测试的需求 电子电路的工作速度越来越快，这就导致器件尺寸不断缩小，新材料不断投 入使用，设计也更加复杂。
这些变化提高了电路的功耗密度，降低了其可靠性， 带来了新的失效机制，所有这些因素对于器件寿命都有重要的影响。
同样，这些 电路中的模拟部件在高速情况下具有完全不同的特性，因此不能使用传统的直流 测试方法来进行测试。
要想检验新的设计，设计者所使用的测试设备必须能够产生具有较高速度的 仿真时钟和数据信号，这样被测电路的工作情况才会比较真实。
脉冲的宽度必须 非常小，达到几个纳秒的量级，脉冲测试才能克服直流测试技术所固有的缺陷问 题。
此外，由于器件尺寸变得越来越小，人们对脉冲测试技术的要求也变得越来 越苛刻。
较小的更容易受到器件自身发热的影响，从而可能会破坏或损伤该 部件，或者改变其对测试信号的响应，掩盖用户希望得到的响应结果。
脉冲测试 常用于测试纳米器件的特性。
先进的技术采用了新的材料，具有新的失效机制，这是常规的直流测试 技术难以胜任的。
直流测试方法对于半导体器件栅介质的电荷捕获特性具有明显 的局限性。
问题在于，这些直流测试技术需要相对较长的时间周期。
在器件发展过程中，诸如，单电子晶体 管传感器和其他些实验性器件常常表现出独特的性质。
要想表征这些性质 而不破坏其结构，就要求测试系统能够密切控制信号源的强度，防止器件自身发 热过大。
为了控制器件的产生功耗，就需要高度精确和可编程的上升和下降时间。
电压脉冲产生的脉冲宽度比电流脉冲窄得多，因此它常用于热迁移之类的实验 中，其中人们所关注的时间帧般不足几百纳秒。
追求的目标 半导体纳米器件和高速部件测试中所使用的仪器在价格预算和上市时间方 面都有很大的限制。
但是，这些测试仪器的测量质量机架结构或测试台空间 易用性等指标都不能因此而打折扣。
设计者需要使用脉冲发生器来满足当前以及 今后的测试需求。
除了脉冲上升和下降时间这类参数之外，我们在评价个脉冲码型发生器 时必须注意三个关键的特性灵活性保真度和易用性。
【毕业设计】基于FPGA的模拟信号源的设计与开发(中英文翻译)在线文档共19页
