机对于监测粒子图像磨损看到第五节。信号处理般信号处理程序设想如下所示。粒子散射模式图像测量，需要大量扫描个特定图像每个帧。定位散射中心后，这些像素校准值被组合在个楔形检测区域，从而模仿楔式探测器方位信号。为了描述平均颗粒形状信息，组衍射相关值在双楔形之间计算如下,,在互相关系数,是,这些相关系数代表在两个楔子间程度相关信号波动如果波动不相关或者如果他们是完全相关，那么他们是零。相关矩阵是对称，值也显示对称。因此，通常情况下，这个值范围在度相关角之间，它是用来描画被称为粒子角谱相关图表，它刻画了形状信息。图给出了三种不同形状粒子投影圆形，正方形和椭圆模拟结果。图粒子模拟角谱为不同粒子预测圆形正方形和椭圆在实践中，这种相关性图，似乎相当数量敏感粒子在测量区。越来越多粒子是有害形状信息。因此，想得到最好信息，可以通过只允许个或几个粒子出现在同时间在测量区。这可以通过降低浓度或光束直径。当然，必须确定在测量粒子完全照亮。在与上述相反平均过程扫描模式，更敏感方法是分析个人扫描模式，其中两个楔之间相关系数为同粒子形状有不同特征曲线。另种方法来处理单粒子方位光谱对形状信息可能是通过傅里叶分析。在这里，信号光强度方位角度扩展为,是傅里叶系数和相位角度。这些系数集合代表方位角谱周期性行为。从而可以用于表征颗粒形状。较低数字系数代表全局结构形状信号。更高数量反映了精细结构。在这方面，其优势是，只有小部分系数可以用来反映相关形状信息。对光线实际调查正如上面提到，通过减少测量区改进粒子形状信息，直到它包含只有个或几个粒子。有个方便方法实现这目标是使用窄波束。这可以通过调整扩束或有效焦距。个测量研究被开展为了获得个洞察这方面和解决可能出现问题。标线与二维不透明形扫描图案立方体形状。图计数立方形状比仍然作为搅拌时间函数。结论在激光衍射中，衍射模式信息不仅包含粒子大小，还取决于它们形状。在它引导下，个新传感器使用像素数组被使用。它优势是灵活性和高分辨率来确定粒子形状，而粒子大小同时可以获得。这方法描述获取定性和定量两个粒子形状信息，通过传感分散方位光强度与粒子角谱互相关。同时，粒子数量在测量区域对频谱影响已经被调查。看起来，灵敏度感应形状可以通过使用单扫描分析和小粒子数量改进，或者通过个小激光束或者通过低粒子浓度。在这里，先前些知识是有利。此外，研究表明，定量形状信息可以通过主成分分析和傅里叶分析单扫描粒子角光谱。这些技术被证明为可以用于颗粒形状监测磨损改变。参考文献中文字出处 毕业设计论文外文文献翻译毕业设计论文题目翻译题目扩展激光衍射颗粒的形状特征技术方面和应用系生命信息与仪器工程系专业电子信息技术及仪器姓名班级学号指导教师扩展激光衍射颗粒的形状特征技术方面和应用摘要扩展激光衍射技术测量粒子大小和形状，是项相当有趣的话题，尤其是对在线控制和监测。 与二维像素阵列获得颗粒形状信息。 圆形和方形衍射模式计算预测和等人报道了个通过扫描组小量相关联方位散射信号粒子获得平均形状信息过程。楔形段结合反向傅里叶设置以应用于测量方位散射信号光电探测器。依赖于粒子大小为了收集形状敏感信号，样品室被放在个离探测器最佳距离上。因为中央叶模式不包含很多形状信息，信号需要在这地区以外地方收集,但需要接近获得足够高强度级别信号。然后，组衍射相关值在双楔形之间计算获得个所谓粒子角谱，它刻画形状信息。在这项研究中，我们采用种新传感器技术，使用个像素阵列来测量散射模式。相比于固定楔型检测器，像素阵列探测器优点是没有必要去对齐。此外，检测区域容易调整以获得最佳不同颗粒尺寸和形状，或在不同粒度值确定形状结果。这个探测器，因此，提供了更多灵活性和分辨率应用。此外，还有各种信号处理方法，即互相关，扫描选择单粒子存在，主成分分析和傅里叶分析，研究了中文字出处毕业设计论文外文文献翻译毕业设计论文题目翻译题目扩展激光衍射颗粒形状特征技术方面和应用系生命信息与仪器工程系专业电子信息技术及仪器姓名班级学号指导教师扩展激光衍射颗粒形状特征技术方面和应用摘要扩展激光衍射技术测量粒子大小和形状，是项相当有趣话题，尤其是对在线控制和监测。与二维像素阵列获得颗粒形状信息。波动散射光强度在方位角方向互相关为粒子角谱转化，这反映了形状信息。采用单扫描分析改善此信息可能性，在小粒子数测量区，主成分分析和傅立叶分析进行了讨论。其潜在应用是通过监测论证磨损立方体形状变化。介绍颗粒形状颗粒物质个非常重要特性，如颗粒尺寸。形状和大小直接关系到产品质量并且对许多过程产生很大影响。因此，在线粒子形状和大小测量,可以在粒子生产过程控制中发挥重要作用。分析粒子形状特征通常是通过传感和分析粒子图像实现,。在这些图片中，粒子轮廓线通常是粒子形状因素压缩信息，比如分形维数或纵横比，或者他们是通过傅立叶分析转化为组傅里叶系数从而反映粒形状信息。直到现在，大多数这些图像分析方法是基于离线分析而且很耗时。因此，很难适应在线过程控制。目前，激光衍射是个非常受欢迎用来测量粒子粒径分布技术。它优势是快速，非侵入性和可再生技术，被用于各种各样微粒过程。在个正常激光衍射测定中，束平行激光束照亮集合分散粒子由此产生散射图案，以及激光束残留物，都被收集和集中在透镜后焦面。在这里，通常系列检测器元件被放置用来记录衍射图案和入射光束消失遮蔽传入光线。在没有放置这些探测器情况下，这些光波会进步传播和到达像平面。在这里，他们重叠和干涉，形成个粒子集体倒影。因此，透镜形成两个截然不同令人感兴趣模式。个是傅里叶变换在后焦平面上，共轭平面源，也就是衍射模式。另个是图像对象，形成平面共轭平面对象。这两种模式都包含相同信息。因此，这是另种方式，直接从粒子模式散射中获取颗粒形状信息。在目前激光衍射仪，粒子大小信息是通过球形颗粒得到。鉴于这项技术优势，其颗粒形状测量扩展成为了个很有趣话题，特别是上线过程控制和监测。对于测量粒子形状，有效传感和分析散射模式都是必需。当粒子尺寸明显大于这入射波长或其折射率是显著不同于周围介质，大多数光都分布在相对入射光束传播方向小散射角上。对于这些条件，夫琅和费衍射理论充分描述了对于大多数应用散射现象,。根据这理论，电磁场函数衍射模式给出了,这里和是衍射平面笛卡儿坐标和是平面对象笛卡儿坐标是入射光波数焦距，是对象中心到观察点之间距离,代表了空间光传输二维粒子投影，在他投影区域内，包含所有入射光波常数，光学设置和在投影区域外部是零。实际上,电磁场函数衍射模式是等于傅里叶变换目标函数。衍射光强在个衍射图样，大小信息包含在它径向强度剖面。相比之下，形状信息主要反映在方位强度分布，但也有影响颗粒形状信号在径向强度剖面上。图显示了对圆形和方形粒子衍射模式预测。对于均匀照亮个球形颗粒，其衍射图案由个中央明亮区域,称为艾里斑，周围包围很多微弱百环与暗环交替。环半径取决于粒子大小。对于个非球形粒子，衍射图案特性在方位角方向上包含有另外些强度最大值和最小值皱纹这些信息可以直接用来确定颗粒形状。图颗粒圆形和方形衍射模式计算预测和等人报道了个通过扫描组小量相关联方位散射信号粒子获得平均形状信息过程。楔形段结合反向傅里叶设置以应用于测量方位散射信号光电探测器。依赖于粒子大小为了收集形状敏感信号，样品室被放在个离探测器最佳距离上。因为中央叶模式不包含很多形状信息，信号需要在这地区以外地方收集,但需要接近获得足够高强度级别信号。然后，组衍射相关值在双楔形之间计算获得个所谓粒子角谱，它刻画形状信息。在这项研究中，我们采用种新传感器技术，使用个像素阵列来测量散射模式。相比于固定楔型检测器，像素阵列探测器优点是没有必要去对齐。此外，检测区域容易调整以获得最佳不同颗粒尺寸和形状，或在不同粒度值确定形状结果。这个探测器，因此，提供了更多灵活性和分辨率应用。此外，还有各种信号处理方法，即互相关，扫描选择单粒子存在，主成分分析和傅里叶分析，研究了提高灵敏度形状特征。仪表二维像素阵列使用在激光衍射仪提供高分辨率优势，有效检测，事实上他们可以被编程得到不仅粒子大小而且可以得到形状空间衍射模式。像素阵列摄像机测量径向散射光来确定颗粒尺寸分布应用已被报道。在这种技术中，有限动态范围强度测量带来了个问题。这个问题是可以克服，例如，通过改变曝光时间或使用个特殊过滤器设置。然而，这些解决方案，对于在线应用程序过于复杂。为了克服这个问题，我们开发了个新检测系统使用个新像素阵列传感器。它包括个互补金属氧化物半导体芯片具有像素对数响应和高动态范围。这里就没有展开了因此，饱和像素不会溢出和影响相邻像素。此外，直接读出和随机访问所有像素是可能。我们使用了个商业版本这个传感器，风雅维，它具有像素和个平方毫米传感器面积。它是由比利时技术制造。转换器设备设置为覆盖四个几十年光强度，这足以覆盖大多数情况下动态范围散射模式。最大像素读出速度是要速度读出全帧取决于个人电脑性能。对于奔腾，该帧速为帧秒。对于颗粒分级这是个足够大速度。由于颗粒在测量单元和投影帧测量期间是稳定。由于传感器灵活像素地址功能，所需帧速，可以选择个合适低数量像素。当然，像素数量仍应足以提供足够分辨率。在我们当前测量室使用，个时速帧秒是高得足以把粒子运动到需要地方因此，像素