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量时,将待测薄膜置于光路过程中,即臂下。
产生的光程差为在插入光路中时,注意观察并记录计算机中干涉条纹移动的条数,条纹变化为光程差每改变∆,条纹就移动环,所以,折射率为该方法的优缺点此方法原理直接简单,但插入瞬间过程条纹移动数目不易精确计数对传统方法进行改进改进方面测量计数方面测量操作方面对应解决办法采取摄像机与计算机自动计数方法对应解决办法借助透射光栅带来的光程差抵消之间的光程差条纹自动计数器待处理图像图像相减图像滤波灰度上也进行了改进。
提高了测量结果的精确度以及准确度,而且还使实验得到了进步的自动化。
节约了调节白光条纹的时间,操作起来更加的简便。
谢谢各位老师的聆听!伸边缘检测二值化图像膨胀图像细化图像预处理流程图采取摄像机与计算机自动计数方法基于迈克尔逊干涉仪的白光条纹干涉法设两反射镜产生的光程差为,透射光栅产生的光程差。
目的由光栅方程得联立两式,得或所以,当ɸ满足上式,便可以在级衍射中看到以波长为中心的彩色条纹。
四小结本文通过对传统迈克尔逊干涉仪测量透明薄膜折射率的方法得到启发,针对传统方法存在的问题提出了改进措施,首先对干涉条纹计数方面进行了改善,其次在光源以及干涉仪的装置,卫星通讯,电缆,公共电信网,飞船内,飞机内,舰艇内,矿井下,军事上,医学上。
光纤通信的传输结构二常见折射率的测量方法几何光学法物理光学法最小偏向角法临界角法二次成像法杨氏双缝法劈尖法牛顿环法迈克尔逊干涉仪法衍射法椭圆偏振法几何方法最小偏向角法在在,中,可得联合,得只需把顶角光程差为薄膜后的光程差为联立上述两式,得该方法的优缺点此方法成像系统测量关系简单,而且条纹间距和缝与屏宽呈线性,为测量带来很大的方便。
但对特定的光,为增大条纹间距,必须增大缝与屏之间的距离,的增减会带来系统长度的增加。
劈尖法牛顿环法三迈克尔逊干涉仪法测量薄膜折射率迈克尔逊干涉仪结构和光路图光路的线路光路的线路测和最小偏向角测出便可以得到折射率该方法的优点是精度高,折射率的测量范围不受限制,不需要已知折射率的标准块。
缺点是测量时测角仪的调整较复杂,测量最小偏向角的手续繁多。
临界角法该方法具有结构简单快速操作简便等特点,般用于液体介质折射率的测量。
物理光学法杨氏双缝法在杨氏干涉实验中,用已知波长为的单色光作为单色光源,在接收屏点处观察到第级亮纹所在的位置。
如图所示,将厚度为的待测透明薄膜插入光源发出的光束途中,点处的条纹则为第级亮纹的位置。
插薄膜前备的发展推动了大规模集成电路薄膜集成电路光集成器件薄膜传感器件光电子磁光电子器件和高质量的光学薄膜等技术的进步。
薄膜技术作为现代光学的核心技术在国民经济中占有着十分重要的地位,从航天卫星等空间探测器到集成电路激光器件生物芯片液晶显示以及集成光学,在很大程度上取决于薄膜技术的发展。
薄膜技术水平的高低已经成为衡量个国家光电信息等高新技术产业科技发展水平的关键。
折射率是反映光学材料的重要特征参数,是光与介质相互作用时的基础数据,对光学材料折射率的测量有助于光学元件光学系统的设计利用折射率可以进行较纯物质和复的混合物成分及化学结构分析。
因此,折射率有很多应用,比如,色散,光纤通信,梯度折射率介质和极慢光速等。
色散当复色光在介质界面上折射时,介质对不同波长的光有不同的折射率,各色光因折射角不同而彼此分离。
材料的折射率随入射光波长的增加而减小的性质,称为折射率的色散。
对于任何所考虑的波长,材料的色散称为色散,这个值可由色散曲线来确定。
年,牛顿利用三棱镜将太阳光分解成彩色光带,是人类首次的色散实验。
光纤通信光纤通信是世界新技术发展革命的重要标志,也是现代通信的主要支柱之。
今年是光纤发明的周年。
其应用非常广泛题目测量透明薄膜折射率的理论研究学生刘韵杰指导老师李艳玲江西理工大学信息工程学院光信息科学与技术专业班毕业论文答辩本次演讲主要内容课题研究的背景意义及应用常见折射率的测量方法迈克尔逊干涉仪法测量薄膜折射率小结致谢课题研究的背景意义及应用薄膜技术直是光学材料科技研究的热点,尤其是近年来,随着纳米级薄膜技术的迅速发展,薄膜技术及薄膜材料已成为当代真空技术及材料科学研究中最活跃的领域之,并在新科学技术革命中,具有举足轻重的地位。
二十世纪八十至九十年代,表面微结构加工技术和微米薄膜制备量时,将待测薄膜置于光路过程中,即臂下。
产生的光程差为在插入光路中时,注意观察并记录计算机中干涉条纹移动的条数,条纹变化为光程差每改变∆,条纹就移动环,所以,折射率为该方法的优缺点此方法原理直接简单,但插入瞬间过程条纹移动数目不易精确计数对传统方法进行改进改进方面测量计数方面测量操作方面对应解决办法采取摄像机与计算机自动计数方法对应解决办法借助透射光栅带来的光程差抵消之间的光程差条纹自动计数器待处理图像图像相减图像滤波灰度光程差为薄膜后的光程差为联立上述两式,得该方法的优缺点此方法成像系统测量关系简单,而且条纹间距和缝与屏宽呈线性,为测量带来很大的方便。
但对特定的光,为增大条纹间距,必须增大缝与屏之间的距离,的增减会带来系统长度的增加。
劈尖法牛顿环法三迈克尔逊干涉仪法测量薄膜折射率迈克尔逊干涉仪结构和光路图光路的线路光路的线路测
