1、以下这些语句存在若干问题，包括语法错误、标点使用不当、语句不通畅及信息不完整——“.....所谓在线测试对焊接在电路板上的各芯片做逻辑测试和故障诊断而离线测试是对脱离电路板的芯片进行测试和故障判断。随着数字集成电路的应用日趋广泛和国家对半导体行业发展的支持，国内系列系列数字集成电路设计能力得到了长足的发展。数字集成电路的应用非常普及，常用的有系列系列等。在调试或维修电路工作中经常需要对芯片进行测试分析。但是，般设计公司不会去考虑生产线设备的开发，而大多数家工厂没有系统研发能力，因而国内从事集成电路后到加工的企业所用的测试设备大部分是从国外引进的。这些设备价格昂贵，操作复杂，在定程度上增加了集成电路生产的成本。目前，有些测试数字集成电路的测试仪，测试仪体积较大，操作麻烦，测量准确性差，测量时间长，使用起来很不方便。集成电路的测试是件经常性的工作，在批电路里电路是好是坏从表面上是看不出来的。如用简单办法，给电路加电源用万用表测，则是件非常麻烦的事，这不仅对技术人员的素质有很高的要求，而且故障诊断的速度慢，质量差......”。

2、以下这些语句存在多处问题，具体涉及到语法误用、标点符号运用不当、句子表达不流畅以及信息表述不全面——“.....从年开始，测试对象为大规模超大规模集成电路，可测管脚剧增到个，功能测试图形速率提高到。不但能有效地测量电路，也能有效地测量电路。此时作为发展的半导体自动测试设备，无论其软件硬件都相当成熟。年测试仪进入第四代，测量对象为，可测管脚数高达个，功能测试图形速率高达，测试图形深度可达以上。测试仪的智能化水平进步提高，具备与计算机辅助设计连接能力，利用自动生成测试图形向量，并加强了数字系统与模拟系统的融合。有些系统实现了与激光修调设备连机工作，对存储器等芯片进行修正。从年仙童公司形成系列以来，继而形成系列的还有泰克公司的系列，泰瑞达公司的系列系列日木安藤电气的系列爱德万的系列以及美国公司的系列，都取得较好的效益。现在，测试仪的功能测试速率已达以上，可测管脚数多达个，定时精度，测试仪的发展速度是惊人的。我国在年代初就开始了集成电路测试仪的研制工作，年代后期国产集成电路测试仪的水平......”。

3、以下这些语句在语言表达上出现了多方面的问题，包括语法错误、标点符号使用不规范、句子结构不够流畅，以及内容阐述不够详尽和全面——“.....计算出芯片的输入输出的关系，从单片机的中取出真值表并输出到待测芯片的端口。再通过检测芯片的输出是不是和预期的样，如果致则进行显示芯片的具体型号，如果不致则检测下组真值表。例如的真值表计算后如下芯片左边输入值芯片右边输入值芯片左边输出值芯片右关的控制。为开显示，的内容就显示在屏幕上，为关显示。的状态是指令和信号控制的。地址计数器地址计数器是个位数计数器。高三位是地址计数器，低位为地址计数器，地址计数器实际上是作为的地址指针，地址计数器为的页指针，地址计数器为的地址指针。地址计数器是没有记数功能的，只能用指令设置。地址计数器具有循环记数功能，各显示数据写入后，地址自动加，地址指针从到。显示数据是储存图形显示数据的。数据为表示显示选择，数据为表示显示非选择。与地址和显示位置的关系见地址表见第页。地址计数器地址计数器是个位计数器，此计数器具有循环记数功能，它是用于显示行扫描同步。当行扫描完成......”。

4、以下这些语句该文档存在较明显的语言表达瑕疵，包括语法错误、标点符号使用不规范，句子结构不够顺畅，以及信息传达不充分，需要综合性的修订与完善——“.....外设单元等。电源和地自动控制单元就是通过通过三极管控制待测芯片和引脚与电源和地线之间的接通与断开，从而实现待测芯片和引脚的自动控制。而三极管导通与否，由和口的输出来控制。总体方案设计及工作过程系列的芯片较常见的就有好多，不同型号的数字集成芯片其逻辑功能不同引脚排列不同甚至哪些引脚作为输入，哪些引脚作为输出都不固定，也就是说，个型号的集成芯片的其中只引脚是输入脚，而另个型号的集成芯片的同只引脚却可能是输出脚了。所以必须要有这样的接口电路和集成芯片引脚连接的检测端口既可作为输入，又可作为输出。单片机的端口是准双向口既可作为输入口，又可作为输出口为检测奠定了重要的基础。检测的基本原理是根据芯片的功能引脚排列情况以及各引脚的输入输出特性，向芯片的输入引脚发送输入信号，再由芯片的输出引脚接收输出响应信号，然后从输出信号的逻辑值与正确的结果是否相符来判断芯片的好坏......”。

5、以下这些语句存在多种问题，包括语法错误、不规范的标点符号使用、句子结构不够清晰流畅，以及信息传达不够完整详尽——“.....指向下行扫描数据，复位后地址计数器为地址计数器可以用指令预置。因此，显示屏幕的起始行就由此指令控制，即的数据从哪行开始显示在屏幕的第行。此模块的共行，屏幕可以循环滚动显示行。四模块的外部接口五指令说明指令表显示开关控制代码形式开显示意即显示器可以进行各种显示操作关显示意即不能对显示器进行各种显示操作设置显示起始行代码形式前面在地址计数器节已经描述了显示起始行是由地址计数器控制的位地址自动送入地址计数器起始行的地址可以是的任意行例如选择是,则起始行与行的对应关系如下行┉┉┉┉┉┉┉┉┉┉┉屏幕显示行┉┉┉┉┉┉┉┉┉┉┉设置页地址代码形式所谓页地址就是的行地址,行为页,模块共行即页,表示页读写地址对数据没有影响,页地址由本指令或信号改变复位后页地址为页地址与的对应关系见地址表设置地址代码形式此指令的作用是将送入地址计数器,作为的地址指针在对进行读写操作后,地址指针自动加,指向下个单元地址表读状态代码形式当时......”。

6、以下这些语句存在多方面的问题亟需改进，具体而言：标点符号运用不当，句子结构条理性不足导致流畅度欠佳，存在语法误用情况，且在内容表述上缺乏完整性。——“.....该课题有关的国内外研究概况和发展趋势。集成电路测试是保证集成电路性能质量的关键手段之。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之。因此，集成电路测试仪或测试系统，下同作为个测试门类受到很多国家的高度重视。年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。第代始于年，测试对象是小规模集成电路，可测管脚数达只。用导线连接拨动开关按钮插件数字开关或二极管矩阵等方法，编制自动测试序列，仅仅测量外部管脚的直流参数。第二代始于年，此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度，测试对象扩展到中规模集成电路，可测管脚数个，不但能测试的直流参数，还可用低速图形测试的逻辑功能。这是个飞跃。第三代始于年，这时的测量对象扩展到大规模集成电路，可测管脚数达个......”。

7、以下这些语句存在标点错误、句法不清、语法失误和内容缺失等问题，需改进——“.....状态分别输出到数据总线的相应位前面已叙述过见标志位节表示触发器的状态见触发器节表示内部正在初始化,此时组件不接受任何指令和数据写显示数据代码形式为显示数据,此指令把写入相应的单元,地址指针自动加读显示数据代码形式此指令把的内容读到数据总线,地址指针自动加六读写操作时序写操作时序读操作时序读写时序参数表芯片信息的显示逻辑符号和逻辑表达式由显示，所用软件为字模提取软件。芯片逻辑表达式及逻辑符号，状态转换图都用画图软件画出来，保存成格式图像，然后打开字模提取软件汉字图形都可以提取，使用方便，可以以格式取模，也支持格式取模，最后生成二进制代码，保存单片机内，供调出显示时使用数字集成电路自动测试仪研制和设计绪论该课题的研究意义在高校的教学实验环节中，需要大量地使用些基本系列的集成芯片。目前，市场上存在种可以对数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手台。因此，从节约经费提高利用率的角度出发......”。

8、以下文段存在较多缺陷，具体而言：语法误用情况较多，标点符号使用不规范，影响文本断句理解；句子结构与表达缺乏流畅性，阅读体验受影响——“.....要按照真值表拍拍去测，是件困难的事。对般用户而言，只需对数字电路进行功能测试，也就是只要判别其逻辑功能是否符合真值表即可阁。本论文的研究内容本论文研究的内容为芯片级数字集成电路逻辑功能测试系统，采用功能验证测试法产生测试矢量，离线完成脚以下系列芯片测试。本测试系统即可实现脱机工作，适应野外作业，又可连机工作，享受机提供的强大功能和友好的人机界面。本论文首先介绍测试原理和测试基本概念，接着提出测试生成算法，构造测试系统硬件电路，用功能验证测试法建立各芯片测试数据库，最后给出程序流程图和测试程序，实现脱机工作和连机工作。即方面单片机系统工作，通过小键盘键入芯片型号，按测试运行键后，通过查表把固化在单片机中的部分芯片测试数据库调入内部中，进行测试另方面根据芯片测试表在机上建立数据库，在环境中调用数据库，通过串行通信，把数据输入到单片机内部，进行测试。其中，硬件电路包括机和单片机测试平台。单片机测试平台包括中心控制单元......”。

9、以下这些语句存在多方面瑕疵，具体表现在：语法结构错误频现，标点符号运用失当，句子表达欠流畅，以及信息阐述不够周全，影响了整体的可读性和准确性——“.....般在几万美元至几十万美元不等。电路板测试仪采用的测试技术除了在线测试功能测试之外，近几年又出现了矢量测试技术边界扫描技术和非矢量测试技术。因为带微处理器的电路板对外界来说主要是输出信号，直接从外界注入激励比较困难，另外微处理器旦发生故障，整个系统将无法运行，也就无法进行下步的测试。所以采用通常的功能测试在线测试都难以准确定位故障源。带微处理器电路板的大部分功能是通过微处理器的控制来实现的，因为目前大多数集成电路芯片和电路板很少考虑到边界扫描技术等可测性设计，所以采用板边界扫描测试方法也难以对其进行测试。在这种情况下，性能测试应运而生，即对内含等的总线结构电路板，采用仿真技术进行测试。世纪年代，国内外共出现了四种仿真测试方法，即处理器仿真测试存储器仿真测试总线周期仿真测试和存储器直接访问仿真测试简称为仿真测试。到年代又产生了种新的通用总线仿真测试方法......”。