1、以下这些语句存在若干问题，包括语法错误、标点使用不当、语句不通畅及信息不完整——“.....例如，它可能是在故障发生后，还没有用到过的寄存器，或是在故障发生后将会被写入的寄存器，这样就消除了故障。对于全部的注入故障相对应的，所期望及所得到的程序结果在我们所指的事件中所得到的矩阵至少在位上不同，这些全部的注入故障可以被认为是导致结果的因素。最终，注入故障后，没有从处理器的得到回复的事件，就被归类为序列组缺失类型。这些故障是不可恢复的，需要硬件复位来重启程序。表和表二总结了实验的结果。对于每种类型，我们给出了在程序执行中确定结果出现的相关百分率。依据表，我们能看出，注入故障导致这种应用结果出错的给率将近半，仅有的概率引起序列缺失。在导致结果的个故障中，共页第页装订线的故障引起了内存中的位变化，仅有个故障影响。这表明要想使内存能可靠运行，需要保护它以免受故障威胁。另外，尽管相比于用在内存中的位数量......”。

2、以下这些语句存在多处问题，具体涉及到语法误用、标点符号运用不当、句子表达不流畅以及信息表述不全面——“.....电路能够抵抗辐射效应的这需要是非常明确的，这主要是因为电路运行过程中，个故障可能就意味着数以百万计的美元和多年的工作的流失。再者，在电路发生故障之前，了解到故障容错技术的效率是极其重要的。本篇论文主要目的是调查快速模型设计以使技术增强的效率，这主要以通用处理器的结构为焦点。所推荐的技术主要是基于监测和纠正能力所包含的内容。英特尔的，作为较为熟知的有精简指令系统的微控制器，选作为研究对象。这个选择的原因是由于这种微控制器被广泛的应用于实际。本篇论文由以下结构组成第二部分，重新审视些相关工作。第三部分，通过种能模拟真实故障的工具来展现出在微控制器中瞬时故障的影响。在第四部分，展现了种增强的微控制器。在第五部分，讲述了对于在真实环境中会被检测到的容错电路的模型实现的些思考。第六部分，总结并讨论未来工作......”。

3、以下这些语句在语言表达上出现了多方面的问题，包括语法错误、标点符号使用不规范、句子结构不够流畅，以及内容阐述不够详尽和全面——“.....缓解方法可以分为电路级别，这种级别需要用到特定的技术处理设计级别，这种级别的逻辑机构需要随之完成对的防御系统级别，这需要在软件中进行修改。为了防止，些像的微控制器制造商，在技术中提出了设计微控制器的方案。但是，其仍然比较昂贵。共页第页装订线在设计级别的方法，像三重模块冗余技术，已广泛的应用于对付瞬时性，在随意逻辑中应用更为广泛。但这方法的缺点是导致了区域费用。在过去几年里已经被用来增加存储器的可靠性。这些技术包括奇偶校验和汉明代码。些研究显示了在状态机中用来代替用冗余触发器的性能。在以前的工作中没有发现对保护完整微机控制器中用技术。相关的工作限制到了仅在内部存储器中应用监测与纠错技术。在微机控制器中的影响因为在涉及到花费，所占区域，性能和软件法规遵从性方面因素时，微控制器是个不错的选择......”。

4、以下这些语句该文档存在较明显的语言表达瑕疵，包括语法错误、标点符号使用不规范，句子结构不够顺畅，以及信息传达不充分，需要综合性的修订与完善——“.....最终，加强的微处理器在辐射环境的真实的实验证明了，这种应用技术的效率。未来的工作包括对设计处理环节的自动化，同时也包括了进步发展对有抵共页第页装订线抗作用的重构型电路。址的存储空间是，接下来的位置，用来存储二操作数矩阵的元素。另外，当在子板中执行这种应用时，它可以直接或间接地利用个中的个，以及和。如此，仅有个字节没有被用。所以，被注入的故障对最终程序执行结果并无影响。得到的故障注入结果共页第页装订线我们可以从中找到这个实验的细节步骤。在此部分，恢复性的结果被描述为种动机，来保护微机处理器。在执行矩阵乘法程序是，总共注入了个随机单个。依据在程序执行水平中的被注入故障的结果，所获得的结果被分为以下三种类型容错型，导致型，以及序列遗失型。在第组中，容错型，与在存储单元中被注入的位变化相关，当故障发生时......”。

5、以下这些语句存在多种问题，包括语法错误、不规范的标点符号使用、句子结构不够清晰流畅，以及信息传达不够完整详尽——“.....例如，利用微粒加速器获得所要结果。测试器的故障植入能力能够提供部分模拟环境。通过向基于的子板机构的处理器内自动注入瞬时故障可以达到模拟效果。这种思想是在选择的区域内注入瞬时位变化，同时在子板的应用程序中执行。其原理是使个干扰信号从当前的执行工作中跳出，到段特殊代码，这个代码能够注入软件。在干扰程序完成之后，在受影响的存储单元之外，干扰程序将会不受任何改动的继续执行。以这种方法，所有类型的共页第页装订线均能被注入。唯的条件是他们应该可以通过些合适的指令序列，可控得，可观察得，影响存储功能的单元。如此，为模拟在存储单元中的，我们将会注入单个位，在此可称为，它的插入时间和位置是随机的。当故障包含有给定的即时标准信息时，插入可能成为在特定区域发生的种瞬时的标准故障，所相关的接口可以被配置......”。

6、以下这些语句存在多方面的问题亟需改进，具体而言：标点符号运用不当，句子结构条理性不足导致流畅度欠佳，存在语法误用情况，且在内容表述上缺乏完整性。——“.....缓解方法可以分为电路级别，这种级别需要用到特定的技术处理设计级别，这种级别的逻辑机构需要随之完成对的防御系统级别，这需要在软件中进行修改。为了防止，些像的微控制器制造商，在技术中提出了设计微控制器的方案。但是，其仍然比较昂贵。共页第页装订线在设计级别的方法，像三重模块冗余技术，已广泛的应用于对付瞬时性，在随意逻辑中应用更为广泛。但这方法的缺点是导致了区域费用。在过去几年里已经被用来增加存储器的可靠性。这些技术包括奇偶校验和汉明代码。些研究显示了在状态机中用来代替用冗余触发器的性能。在以前的工作中没有发现对保护完整微机控制器中用技术。相关的工作限制到了仅在内部存储器中应用监测与纠错技术。在微机控制器中的影响因为在涉及到花费，所占区域，性能和软件法规遵从性方面因素时，微控制器是个不错的选择......”。

7、以下这些语句存在标点错误、句法不清、语法失误和内容缺失等问题，需改进——“.....也可以使暂时的。由于受困于硅，氧化物界面的微粒而引起永久性故障，只有在长期暴露于辐射之后才会出现。暂时性故障可能是由于在电路敏感区域中单个带电粒子的影响引起。依据受影响的位置，有两种,即和。是在电路当时没有关断的情况下，因寄生晶闸管的触发而引起短路，致使热效应破坏组件而导致。是由于在集成电路中存储的位信息，出现称之为压折或位变化的瞬时变化而引起。通过些已有的技术，例如，批量处理，可以将总电离量和单个闭锁情况的影响降低到可接受的水平。但是，所表现出的由于辐射导致的障碍，在空间应用，尤其是在高密度，亚微米集成电路中，却是较难避免的。在本篇文章中，我们只谈论故障。故障的结果取决于被扰动的信息的性质，或者只是产生结果，或者甚至导致系统崩溃。例如，像处理器，微控制器的电路，其对的敏感性主要与其内部用到的大量的存储器相关......”。

8、以下文段存在较多缺陷，具体而言：语法误用情况较多，标点符号使用不规范，影响文本断句理解；句子结构与表达缺乏流畅性，阅读体验受影响——“.....为了能够实现有效的容错技术，对在电路中的故障位置和故障影响的精确检测是很必要的。通过在标准中现有的硬件中进行注入可控故障的实验，这种检测便可以得到实现。在实验中，微控制器执行个设计好的程序，其旨在提供种能够使电路受到影响的最糟糕的条件。事实上，所选的程序，个同时有操作数和结果矩阵的的矩阵乘法，占用了大部分的内部存储空间，这就使得其容易产生故障。检测器的基本原理在微控制器在操作系统发挥作用之前，在个严格的辐射环境中检测集成电路是强制性的步，这将有助于降低在未来应用中失败的可能性。针对辐射，电路的敏感性评估可以通过如下几种方法做出通过来自在实际环境中航天器运行所产生的飞行数据分析的方法通过用电子光束，地面试验的方法通过向电路中加入故障的方法。要预测在最终的环境中率，筛选试验是强制性的......”。

9、以下这些语句存在多方面瑕疵，具体表现在：语法结构错误频现，标点符号运用失当，句子表达欠流畅，以及信息阐述不够周全，影响了整体的可读性和准确性——“.....的注入伴随着给定程序的每条指令进行执行。这样的种故障植入方法已经有过，但据我们所知，在先前的出版物中，经批它在实际电路中的应用还没有结果。故障运行试验在有效的处理器重故障的主要区域是•内部的字节•特殊功能寄存器•程序计数器和指令寄存器•通常的，可以运行的存储单元当执行所研究的程序时，与这些不同区域相致的干扰代码，可以被扩展，验证，并且备用来探索瞬时故障的发生率。当在严酷的环境中运行时，对如和的关键寄存器做特殊工作，来模拟所产生的潜在的这样的大部分故障。如前所述，在故障检测中，定义个的矩阵乘法程序来运行。这种应用允许有效得使用可用的内存，可以监测大部分的注入故障。图二描述了受检测处理器的矩阵乘法程序的存储结构。前十个内存位置，从到，被用来存储矩阵乘法程序的变量。从到......”。