毕业论文_x射线衍射线形分析技术的发展及应用（1） ㊣ 精品文档 值得下载

的任何部位相交都能产生衍射。

衍射峰的底宽对应于选择反射区的宽度范围。

选择反射区的大小和形状是由晶块的尺寸为干涉函数主峰底宽与以，选择反射区的大小与晶块的尺寸成反比。

可以把晶胞当做个散射单元，将晶胞的原点做为散射中心。

取中心为原点，其它散射中心的位置用矢量示，即假定小晶体在晶轴小晶体中包括的晶胞数小晶体的三个棱长为晶胞间的相干散射位相差可表晶界裂纹空位和缺陷等附近产生不均匀的塑性流动，从而使材料内部存在着微区几十埃应力。

这种应力也会由多相物质中不同取向晶粒的各向异性收缩或合金中相邻相的收缩不致或共格畸变所引起。

试样中的这种应力即无定的方向，又无定的大小。

似的因此它们使面间距产生定的变化范围，从而衍射角有个变比范围，即使衍射线宽化。

微观应力与衍射线宽化计算关系微观应力或晶格畸变导致晶面间距发生对称性变化，相应地引起衍射角变化。

衍射线的半高宽为微晶宽化与波长成正比，而微观应力宽化与正比。

区分二者的二种方法利用不同波长的辐射进行测试，如果衍射线宽随波长变化，说明宽化是由微晶引起。

反之，则由微观应力引起。

用试样不同衍射级的衍射线计算线宽，观察各衍射线线宽随角的变化规律。

如果明宽化是由微晶引起的如果明宽化是由微观应力引起。

微晶宽化与微观应力宽化的分离如果试样中同时存在微晶宽化和微观应力宽化，问题的处理将比较复杂。

设微晶宽化的线性函数为微观应力宽化的线性函数为。

这两种宽化效应的叠加也遵循卷积关系，物理宽化与微晶宽化卷积的求解方法有近似函数法，付立叶变换法和方差分析法这只介绍第种。

常用的近似函数有高斯函数及柯西函数。

又是由材料中的晶格畸变亦称点阵畸有种程度的分离时，适用图解法分离双线。

，可将等分后从数学方法进行了使能被等分，可先将划分为元宽度，再以划分为。

用分别表示各分割单元的对应强度图形中双线峰位的间距，并使它在和附近移动，找到使两线形满足上述条件的位置，就是准确的和位置，同时也就确定了两个峰的形状。

图解法简单易行，但包含着定的任意性，在精确要求不高，特别是图形上线已加线形。

首先确定出辐射的标准布拉格位置和，以和位置为和的峰顶，使两个线形很像，并且图中的两个阴影部份的面积相等，从而得到和。

如果和的位置不能准确地确定，则可以由已知的值确定出是所形成的。

线形。

假定衍射线强度按波长的分布近似相同，强度比为，且或图形分离法图中的为辐射的叠由两个衍射峰叠合而成。

所用辐射和衍射线布拉格角有关。

要得到各个参数就必须将两者分离开来。

和宽为。

若双线分离度为，当衍射线峰形对称底宽相同时，衍射峰同侧边界相距也为。

实测线形括吸收因子温度因子和洛伦兹能够反映试样物理宽化情况的线形，它是把各种因素校正后所得的曲线。

二双线的分离主要有以下分离方法辐射合成的，且缠绕在起。

辐射强度比约为。

实验得到的衍射峰也是欠聚焦试样的吸收衍射仪的轴偏离和接受狭缝的宽度等。

辐射是由波长非常接近的辐射合成的，实验得到的衍射峰是由两个衍射峰叠合而成。

角因数的影响切随变化的因数都会影响衍射线的形状。

主要包是很看重。

在平常分析中近似函数图解法用的相对比较多。

实测线形与真实线形它是由衍射仪扫描后得到的原始图形，影响他的因素如下实验条件的影响包括由于生的入射线具有似的定的发散度平板试样引起的的方法主要有有近似函数图解法傅立叶分析和方差分析法等方法。

的垂线，对应的数值为衍射线的线位。

最常用的方是将衍射线顶部强度部分近似为抛物线，再用个实验点拟合此抛物线，此抛物线顶点对应的数值为衍射线的线位灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属射线学获得新的推动力。

这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。

本文着重介绍射线衍射技术的原理，以及其应用方面，简单介绍射线衍射技术的发展及未来趋势关键词析技术半高宽近似函数法位错，目录线衍射线形的构成衍射线的线形二衍射线的强度三衍射线的宽度二衍射线形分析方法基础实测线形与真实线形实测线形真实线形二的双线分离图形分离法离法付里叶级数变换分离法三利用校正曲线获得线宽四吸收因子温度因子角因子的影响吸收因子的校正温度因子的校正角因子洛伦兹影响五仪器宽化效应衍射仪的权重函数衍射线形的卷积关系值三线衍射线形分析方法的应用晶体结构点阵畸变及储能二位错密度三晶粒尺寸测定及分布四射线衍射线形分析方法的未来发展趋势致谢参考文献吃过饭射线衍射线线形的构成将样品用衍射仪扫描得到原始数据，可以做出射线衍射的原始图形，也就是衍射线强度按衍射角角分布的线形。

当衍射峰比较尖锐时，作连接线形两侧根部平缓区的直线即可扣除背底当衍射峰。

难以确定衍射线两侧的平底时，可用标准物质的背底作为样品测量的背底。

然后才能从上面可以通过分析衍射线的线位，衍射线的高度峰值以及衍射线的宽度来得到些结论衍射线的线位衍射线的线位确定方法主要有以下三种。

这种方法可以由图中确定衍射线的线位。

根据线形的情况可以有不同的确定方法。

长线法，这是在衍射峰不很明显的情况下用的，两侧的直线部位，两虚线交于点，过点作横坐标的垂线，对应的数值为衍射线的线位。

顶点法，衍射峰很明显时，可以直接由最高点做横坐标的垂线，得出此线位。

弦中法，在最大强度的处做平等于背底的弦，从弦的中点作背底的垂线，对应的数值为衍射线的线位。

最常用的方是将衍射线顶部强度部分近似为抛物线，再用个实验点拟合此抛物线，此抛物线顶点对应的数值为衍射线的线位。

在衍射线顶部等间隔取三个实验点代入抛物线方程，如果等间隔取五个实验点，线位记衍射线重心对着的横坐标为线位，记为。

将衍射峰所在区间分为等分，利用以下公式可求出利用了全部衍射数据确定衍射线的线位，此方法虽简单但是工作量太大。

似的二衍射线的强度即峰的高度，以衍射谱中最高峰强度定为，这样我们就可以确定其它峰的强度。