1、“.....屏蔽线接次端点,型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理图,如图所示图型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理图点承受高压线输出的高压,点承受屏蔽次绕组对外壳末屏的绝缘电阻均合格。如果测试的绝缘电阻不合格,应分别测量。测试次绕组对末屏的绝缘电阻时,如图所示,末屏对地应解开,次绕组短接接地,高压线接次端点,线接末屏点,此时高压输出通过主到端形成回路,次对次及地不在此测量回路中,测得结果仅为次对末屏的绝缘电阻。正立式电流互感器有末屏引出测试方法研究原稿。型与型介损仪泛华测试末屏对地电容量和介损的原理型介损仪测试的连接线为高压测试线,屏蔽线悬空。正立式电流互感器有末屏引出测试方法研究原稿。现对台型号为,额定电流比为,制造厂为中国南京电瓷总厂的电流互感器,进行绝缘电阻和电容量和介质损耗因数测试方法的研究。绝缘电阻测试次绕组绝缘电阻点和点短接后点为次端,点为末屏,为数字高压兆欧表,为兆欧表高压线......”。

2、“.....为次对末屏的等效电容,为末屏对地等效电容,为次对地的次端点,线接末屏点,此时高压输出通过主到端形成回路,次对次及地不在此测量回路中,测得结果仅为次对末屏的绝缘电阻。正立式电流互感器有末屏引出测试方法研究原稿。现对台型号为,额定电流比为,制造厂为中国南京电瓷总厂的电流互感器,进行绝缘电阻和电容量和介质损耗因数测试方法的研究。绝缘电阻测试次绕组绝缘电阻点和点短接后点为次端,点为末屏,为数字高压兆欧表,正立式电流互感器有末屏引出测试方法研究原稿场测试应采用次屏蔽法,次屏蔽法测得的值才是末屏对地的值,且在现场有电场干扰的情况下,数据稳定,重复性好。型和型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理不同,但都起到了屏蔽次的作用。型介损仪是通过高压线和屏蔽线输出电压相等的原理,将主所在支路屏蔽因为需要测末屏对地的介损和电容量,无法直接测得末支路的电流,型介损仪通过测主和末的总电流......”。

3、“.....以及主支路的电流,通过减法计算测得末支路电流的方法,将主支路屏蔽。参考文献牛林谭立成互感器试验与分析北京中国电力出版社,陈天翔王寅仲海世杰电气试验第版北京中国电力出版社,电力行业职业技能鉴定指导中心电气试验第版北京中国电力出版社,。图电流互感器次绕组绝缘测试接线图图电流互感器次绕组绝缘测试原理图如图所示,测量次绕组绝缘电阻时,次绕组短接接地,末屏接次端,兆欧表线接地。末屏对地绝缘电阻小于时,需进行末屏对地的电容量和介质损耗因数测试。末屏对地的电容量和介质损耗因数测试,由于相邻设备带电的影响,现场电场干扰严重,被试设备与相邻带电设备有电容耦合,导致耦合电容并入,而只要有电容并入,就会导致测得的介损偏小,电容量偏大。现场测试时不打开地刀最常用的次接地法,测得的介损和电容量是末屏对地和次对末屏的并联值,而我们测试的目标是末屏对地的值......”。

4、“.....需解开末屏,次绕组短接接地,高压线接末屏,屏蔽线接次端,兆欧表线接地。末屏对地绝缘电阻小于时,需进行末屏对地的电容量和介质损耗因数测试。末屏对地的电容量和介质损耗因数测试,由于相邻设备带电的影响,现场电场干扰严重,被试设备与相邻带电设备有电容耦合,导致耦合电容并入,而只要有电容并入,就会导致测得的介损偏小,电容量偏大。现场测试时不打开地刀最常用的次接地法,测得的介损和电次端点,型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理图,如图所示图型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理图高压线上流过的电流为末和主的电流和,线上流过的电流为主支路的电流,仪器内部可通过计算得出末流过的电流,已知参考电压,可测出末屏的介损值和电容量。结论次绕组的绝缘电阻包括次绕组对次绕组绝缘电阻和次绕组对外壳末屏通过外壳接地绝缘电阻,本文将次对地的绝缘电阻忽略。容量是末屏对地和次对末屏的并联值......”。

5、“.....因此现场测试应采用次屏蔽法,次屏蔽法测得的值才是末屏对地的值,且在现场有电场干扰的情况下,数据稳定,重复性好。型和型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理不同,但都起到了屏蔽次的作用。型介损仪是通过高压线和屏蔽线输出电压相等的原理,将主所在支路屏蔽因为需要测末屏对地的介损和电容量,无法直接测得末支路的电流,型介损仪通型与型介损仪泛华测试末屏对地电容量和介损的原理型介损仪测试末屏对地电容量和介损的次端和短接后用点表示,为末屏,次绕组短接接地。点和点之间的电容为主,点对地的电容为末,型介损仪测试时,将高压线接末屏点,屏蔽线接次端点,型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理图,如图所示图型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理图点承受高压线输出的高压,点承受屏蔽图次屏蔽法测量末屏对地的介损和电容量济南泛华介损仪型下面将电流互感器次对末屏末屏对地的电容量和介质损耗因数的种测试方法测得的数据做下记录......”。

6、“.....根据表的数据进行分析次屏蔽与次悬空测试时的比较次悬空法测得的介损值比次屏蔽时小,电容量比次屏蔽时大。主要原因是电容型电流互感器次绕组对末屏的绝缘,电容量较大,介质损耗因数较小,次悬空时次对地的杂散电所不同。根据表的数据进行分析次屏蔽与次悬空测试时的比较次悬空法测得的介损值比次屏蔽时小,电容量比次屏蔽时大。主要原因是电容型电流互感器次绕组对末屏的绝缘,电容量较大,介质损耗因数较小,次悬空时次对地的杂散电容并入,介质损耗因数偏小,电容量增大。次接地与次悬空屏蔽测试时的比较次接地测试时,介质损耗因数比次屏蔽和悬空测试时均小,电容量的数值大约为倍。次接地时测得的介损和电容量,相当于次屏蔽时测得的末屏对点通过外壳接地,高压线接次端点,线接地。如图所示,此时测量的是电流互感器次绕组对次绕组并上次绕组对外壳末屏的绝缘电阻......”。

7、“.....可忽略不计。因为电阻并联后变小,如果此时测出的绝缘电阻合格,次绕组对次绕组的绝缘电阻次绕组对外壳末屏的绝缘电阻均合格。如果测试的绝缘电阻不合格,应分别测量。测试次绕组对末屏的绝缘电阻时,如图所示,末屏对地应解开,次绕组短接接地,高压线接容量是末屏对地和次对末屏的并联值,而我们测试的目标是末屏对地的值。因此现场测试应采用次屏蔽法,次屏蔽法测得的值才是末屏对地的值,且在现场有电场干扰的情况下,数据稳定,重复性好。型和型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理不同,但都起到了屏蔽次的作用。型介损仪是通过高压线和屏蔽线输出电压相等的原理,将主所在支路屏蔽因为需要测末屏对地的介损和电容量,无法直接测得末支路的电流,型介损仪通场测试应采用次屏蔽法,次屏蔽法测得的值才是末屏对地的值,且在现场有电场干扰的情况下,数据稳定,重复性好。型和型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理不同......”。

8、“.....将主所在支路屏蔽因为需要测末屏对地的介损和电容量,无法直接测得末支路的电流,型介损仪通过测主和末的总电流,以及主支路的电流,通过减法计算测得末支路电流组对外壳末屏通过外壳接地绝缘电阻的并联值。并联值满足状态检修规程的要求,分别测量肯定满足。如并联值不满足状态检修规程要求,再分别测量测量次对末屏绝缘电阻时,需解开末屏,次绕组短接接地,高压线接次端,兆欧表线接末屏线不可接地测量次对次绝缘电阻时,需解开末屏,次绕组短接接地,高压线接次端,屏蔽线接末屏,兆欧表线接地。末屏对地的绝缘电阻测量,需解开末屏,次绕组短接接地,高压线接末屏,屏蔽线正立式电流互感器有末屏引出测试方法研究原稿并入,介质损耗因数偏小,电容量增大。次接地与次悬空屏蔽测试时的比较次接地测试时,介质损耗因数比次屏蔽和悬空测试时均小,电容量的数值大约为倍。次接地时测得的介损和电容量......”。

9、“.....末屏对地电容和主屏电容并联,并联介损值,可以得出介损变小,电容量并联为两个电容量的和,得出电容量变大。由此得出,次屏蔽法测得的数据最准场测试应采用次屏蔽法,次屏蔽法测得的值才是末屏对地的值,且在现场有电场干扰的情况下,数据稳定,重复性好。型和型介损仪测试末屏对地电容量和介损的原理不同,但都起到了屏蔽次的作用。型介损仪是通过高压线和屏蔽线输出电压相等的原理,将主所在支路屏蔽因为需要测末屏对地的介损和电容量,无法直接测得末支路的电流,型介损仪通过测主和末的总电流,以及主支路的电流,通过减法计算测得末支路电流于电源线路中,次负荷电流通过次绕组时,产生的交变磁通感应产生按比例减小的次电流次绕组的匝数较多,与仪表继电器变送器等电流线圈的次负荷串联形成闭合回路。根据输变电设备状态检修试验规程,绝缘电阻电容量和介质损耗因数是必做项目......”。