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基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计(论文原稿) 基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计(论文原稿)

格式:word 上传:2022-08-17 03:26:10

《基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计(论文原稿)》修改意见稿

1、“.....从分压电阻上取出电压与基准电压相比较,得出信号,单片机检测信号,当芯片引脚接触良好时引脚电压约,未插入芯片是测该点电压为,这样若是高电平则芯基与系列芯片的集成电路测试仪的设计论文原稿试脚以下系列芯片的目的。总之这系统使数字集成电路的测试向专门化发展,克服了些大型测试仪利用率不高,使用不方便等不足,可以说为测试系统的发展开辟了条道路。参考文献严之琦数字电路故障检测与诊断的策略块作为显示电路模块......”

2、“.....硬件系统运行正常,与需检芯片连接无误。芯片检测结果正确率达到。小结本文通过采用种以单片机为核心的智能测试技术,构建数字集成电路的测试平台,为离线完出位测试信号的目的。测试信号的接收待测芯片的输出信号同样也是位,同样要复用单片机的个端口,上面的测试信号输出完毕后,单片机的口就处于空闲状态,在此为了不浪费单片机的端口,从待测芯片送回的信号仍然系统的设计与实现时钟电路系统的时钟电路设计采用的是内部方式,即利用芯片内部振荡电路......”

3、“.....这位的测试信号还要同时输出到待测芯片,复用单片机的口,试仪的设计论文原稿。总体结构系统先检测芯片引脚数,对芯片进行供电,由键盘输入信息,单片机或是主芯片读取信号后,执行检测功能,对读入的键盘信号进行处理,将处理后的结果以串行通信的方式发送到单计采用的是内部方式,即利用芯片内部振荡电路。总体结构系统先检测芯片引脚数,对芯片进行供电,由键盘输入信息,单片机或是主芯片读取信号后......”

4、“.....对读入的键盘信号进行处理,将处理后的结果以串些大型测试仪利用率不高,使用不方便等不足,可以说为测试系统的发展开辟了条道路。参考文献严之琦数字电路故障检测与诊断的策略探讨赤峰学院学报,王艳芳,张颖数字电路芯片检测系统的研制与应用实验室科学,张无误。芯片检测结果正确率达到。小结本文通过采用种以单片机为核心的智能测试技术,构建数字集成电路的测试平台,为离线完成脚以下系列芯片的测试提供了科学的硬件基础......”

5、“.....然后通过液晶显示进行显示出来。本设计中单独使用单片机来测试芯片的引脚数,然后根据引脚数供电,通过软件实现对芯片功能的检测包括芯片的型号逻辑图,通过显示出来。通过显示出来。复位电路复位是由外部的复位电路来实现的。本系统采用的办法是在端和正电源之间接个按钮。当认为按下按钮时,则的电平就会直接加到端。基与系列芯片的集成电路测的个端口,上面的测试信号输出完毕后,单片机的口就处于空闲状态......”

6、“.....从待测芯片送回的信号仍然经口送入单片机,但芯片引脚为位而口只有位,仍使用片,分次将测试信号送入单行通信的方式发送到单片机或是主芯片上,然后通过液晶显示进行显示出来。本设计中单独使用单片机来测试芯片的引脚数,然后根据引脚数供电,通过软件实现对芯片功能的检测包括芯片的型号逻辑图李同瀚小型数字集成电路测试仪的设计和实现湖北理工学院学报,作者单位安徽建筑大学城市建设学院安徽省合肥市。基与系列芯片的集成电路测试仪的设计论文原稿......”

7、“.....利用功能验证测试算法建立了测试数据库,通过编制测试程序,最终以高精度快速度和准确率高的测试结果实现离线测试脚以下系列芯片的目的。总之这系统使数字集成电路的测试向专门化发展,克服了片机。键盘及显示电路能够直接驱动位共阴式数码管,同时还可以扫描管理多达只按键作为键盘电路。选用系列中文模块作为显示电路模块。实验结果与分析试验结果表明,硬件系统运行正常......”

8、“.....每次选择片,锁入单片机口的位数据,待位数据全部送入后同时给片送入使能信号,这样我们就实现了同时输出位测试信号的目的。测试信号的接收待测芯片的输出信号同样也是位,同样要复用单片机信号,单片机检测信号,当芯片引脚接触良好时引脚电压约,未插入芯片是测该点电压为,这样若是高电平则芯片接触良好,如果是低电平则引脚接触不良活着引脚损坏,这样我们就能判断芯片引脚是否已经片接触良好......”

9、“.....这样我们就能判断芯片引脚是否已经接触好。关键词自动测试仪常见的系列数字集成电路是现今仍在广泛使用的集成电路,在设计制造和应用阶段,不可避免的会讨赤峰学院学报,王艳芳,张颖数字电路芯片检测系统的研制与应用实验室科学,张玲,李同瀚小型数字集成电路测试仪的设计和实现湖北理工学院学报,作者单位安徽建筑大学城市建设学院安徽省合肥市。基与系列成脚以下系列芯片的测试提供了科学的硬件基础。通过对大量集成电路的统计和分析......”

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