断提高，的逻辑关系越来越复杂，时序要求严格甚至苛刻，测试已经不可能像早期那样人工输入测试向量来实现。大规模集成电路的测试般需要经历个阶段第个阶段是仿真阶段，般运用或工具仿真完成第个阶段测试向量转换过程实现论文原稿自动测试设备不能直接使用电子设计自动化产生的仿真向量，需要通过转换得到可识别的测试向量，测试向量的转换成为测试程序开发的关键步骤之。本文介绍了测试向量转换的概念向量转换的关键技术，分析了测试向量转换过测试程序开发中，测试向量转换已经成为测试程序开发的个重要环节。国外有些公司也能提供成熟的软件来实现测试向量转换，但价格高昂培训成本高，另外软件系统庞大维护困难技术支持和升级费用高。因此，很有必要研究测试向成度的不断提高，芯片的功能越来越强大，测试它所需要的向量也变的越来越长。然而，的向量存储深度是有限的，当芯片的测试向量超过了的向量存储深度，测试将无法完成。还有，当测试向量较大时，每次向导入向量都会占用测试时序提取时序提取方法理论上有两种，种是单点取样法，单点取样是在每个周期的固定时刻对信号进行取样。对于输入信号，般取样点设臵在周期靠前位臵对于输出信号，般取样点设臵在周期靠后位臵，这样做的目的是保证芯片有足够的传路，仿真文件中的个输入信号可从步进到。使用进行仿真，并生成仿真文件。双向信号的分离双向管脚有时作为输入有时作为输出，需要指出其控制信号，如当控制信号为。时，该双向管脚作为输出使用，用表示电平，该双向管脚作为输出使用，用表示电平。，用表示电平，那么为时就作为输入，信号电平仍然用表示。总线信号的分离中，总线信号电平从左到右分别对应最高位到最低位，分离时同样要根据其管脚属性进行格式上的变换。设计编工作中使用的方法往往是者的结合。测试向量压缩随着集成度的不断提高，芯片的功能越来越强大，测试它所需要的向量也变的越来越长。然而，的向量存储深度是有限的，当芯片的测试向量超过了的向量存储深度，测试将无法向量转换方法，实现测试向量的快速转换，缩短测试程序开发周期。测试时序提取时序提取方法理论上有两种，种是单点取样法，单点取样是在每个周期的固定时刻对信号进行取样。对于输入信号，般取样点设臵在周期靠前位臵对于输出信号，测试向量转换过程实现论文原稿，用表示电平，那么为时就作为输入，信号电平仍然用表示。总线信号的分离中，总线信号电平从左到右分别对应最高位到最低位，分离时同样要根据其管脚属性进行格式上的变换。测试向量转换过程实现论文原稿。根据设计编写的源程序，在相应软件开发环境下建立仿真文件，对测试工程进行仿真，仿真频率设为测试频率，复位信号有效，般对所有的可能输入进行遍历。比如对于输入查找表结构的可编程逻辑阵列，若设计成输入输出的串行逻辑电复杂，时序要求严格甚至苛刻，测试已经不可能像早期那样人工输入测试向量来实现。向量般是在设计过程中由产生，然而产生的仿真向量般不能直接为所用，需要转换才能成为所识别的测试向量。因此，写源程序根据被测芯片手册，设计编写功能源程序，比如将可编程阵列设计成具有定功能的逻辑电路，将内嵌存储模块设计成定容量的单口等，并实现全部资源的覆盖，般使用硬件编程语言实现，并在相应软件开发环境下编译。在线仿成。还有，当测试向量较大时，每次向导入向量都会占用较长时间，不便于测试程序的调试。测试向量转换过程实现论文原稿。双向信号的分离双向管脚有时作为输入有时作为输出，需要指出其控制信号，如当控制信号为。取样点设臵在周期靠后位臵，这样做的目的是保证芯片有足够的传输延迟时间。另种是波形继承法，波形继承法是将仿真向量按测试周期进行时间上的切割，切割产生的波形原封不动保存下来，形成测试时序和向量。者各有优缺点。实际测试程序开发中，测试向量转换已经成为测试程序开发的个重要环节。国外有些公司也能提供成熟的软件来实现测试向量转换，但价格高昂培训成本高，另外软件系统庞大维护困难技术支持和升级费用高。因此，很有必要研究测试测试向量转换过程实现论文原稿测试向量转换的实现过程。另外，开发了测试向量转换脚本软件，缩短了测试程序调试时间，加快了测试程序开发速度。关键词测试向量转换可编程逻辑器件引言随着设计水平的不断提高，的逻辑关系越来缩方法等关键技术。摘要随着超大规模集成电路设计的规模和复杂性不断增加，用于测试芯片的测试向量变的非常庞大，同时测试程序设计需考虑多种因素，从而导致测试开发工作困难程度大大增加。自动测试设备不能直接使用电子设计自动化测试程序开发阶段，主要进行测试接口设计测试向量转换和测试调试工作第个阶段是测试阶段，完成测试工作。向量转换关键技术目前，大多数大规模集成电路测试都是基于功能的仿真，仿真输出般是格式，文件是电平信号的事件，并以可编程逻辑器件为例具体讲解测试向量转换的实现过程。另外，开发了测试向量转换脚本软件，缩短了测试程序调试时间，加快了测试程序开发速度。关键词测试向量转换可编程逻辑器件引言随着转换方法，实现测试向量的快速转换，缩短测试程序开发周期。摘要随着超大规模集成电路设计的规模和复杂性不断增加，用于测试芯片的测试向量变的非常庞大，同时测试程序设计需考虑多种因素，从而导致测试开发工作困难程度大大增加。较长时间，不便于测试程序的调试。测试向量转换过程实现论文原稿。向量般是在设计过程中由产生，然而产生的仿真向量般不能直接为所用，需要转换才能成为所识别的测试向量。因此，传输延迟时间。另种是波形继承法，波形继承法是将仿真向量按测试周期进行时间上的切割，切割产生的波形原封不动保存下来，形成测试时序和向量。者各有优缺点。实际工作中使用的方法往往是者的结合。测试向量压缩随着