1、“.....保证测试环境的正确性。抗技术研究电子测量技术，郝亚男，高欣，许仕龙型的容错技术中国集成电路，黄丽百万门级专用集成电路的验证西安电子科技大学，。测试床组成表的方式由于其设计方法可行，既不中断正常工作，对系统功能不影响，又可以及时纠正翻抗动态刷新的仿真验证技术研究论文原稿的是零验漏，除了上述的从功能结构分解的功能测试点外，还应该从性能接口安全和恢复性各方面对设计进行高效和全面的验证，如重载时间回读周期和刷新周期等性能测试，所有接口时序测试......”。

2、“.....在验证之初就应该对每个设计点有细节的认知，从储着配臵程序，控制着可配臵逻辑资源，包括布线资源可编程逻辑器件数字时钟管理单元等。旦配臵存储器被单粒子打翻，就可能造成功能失效。目前航天设计师通常使用次性可编程设计种特殊可进行监控和重配臵的抗装臵，进行定期全局刷新新能提高型抗单粒子翻转的能力，目前宇航型的抗动态刷新电路设计技术已经较为成熟，但是如何验证其功能正确性，没有给出特殊方法。本文提出种消除单粒子效应造成的软故障的抗的設计方式......”。

3、“.....在接口方式下，与待刷新接口信号由，等信号构成，接口时序如图所示。测试内容包括下面点。上电复位后，的读写控制信号片选控制信号为低电平，产生文原稿。仿型配臵区模拟了配臵区功能，除了完成接口的时序仿真以外，内部还开辟块存储空间用于数据文件的存放。验证要点和验证方法本文针对目前航天主流型产品系列进行接口回读刷新设计的的存放。验证要点和验证方法本文针对目前航天主流型产品系列进行接口回读刷新设计的电路或者设计，提出仿真验证要点及其验证方法......”。

4、“.....得到设计的个功能点加载控制功术方法。加载控制功能上电后，在接口方式下，与待刷新接口信号由，等信号构成，接口时序如图所示。测试内容包括下面点。上电复位后，的读写控制信号片选控制信号为低电叠加构成。配臵存储器存储着配臵程序，控制着可配臵逻辑资源，包括布线资源可编程逻辑器件数字时钟管理单元等。旦配臵存储器被单粒子打翻，就可能造成功能失效。目前航天设计师通常使用次性可编程设计种特殊可进行监控和重配臵的抗抗动态刷新的仿真验证技术研究论文原稿电路或者设计......”。

5、“.....对设计先进行需求分析，得到设计的个功能点加载控制功能回读判定功能刷新重构功能。在该测试床中分别对这个功能点进行验证，确保设计有效性。部分最后帧，第部分读取。以的回读流程为例，具体回读流程如图所示，简要的说就是步去同步写回读指令读读配臵数据和配臵数据比较回读数据。抗动态刷新的仿真验证技术研究论有着广泛的应用，配臵刷新能提高型抗单粒子翻转的能力，目前宇航型的抗动态刷新电路设计技术已经较为成熟，但是如何验证其功能正确性，没有给出特殊方法......”。

6、“.....并重能回读判定功能刷新重构功能。在该测试床中分别对这个功能点进行验证，确保设计有效性。中存储的配臵文件与配臵区的数据文件数据应致。回读判定功能系列个完整的回读流程，包括部分回读时序第部分读取等，第部分读取第平，产生配臵时钟，信号有低电平脉冲，当信号由低电平变为高电平后，应从中读出配臵数据，对进行加载。仿型配臵区模拟了配臵区功能，除了完成接口的时序仿真以外，内部还开辟块存储空间用于数据文件臵......”。

7、“.....避免空间的单粒子翻转效应。本文对消除单粒子效应造成的软故障的方式进行介绍，并针对其中最常用的种抗单粒子翻转装臵提出仿真验证方案，验证其单粒子翻转的有效性，给出此类回读刷新设计的验证要点和验证技点针对周期性闭环配臵刷新方式进行了仿真验证技术研究，找出验证该模式的关键验证要点，供验证人员作为指导。关键词动态刷新中图分类号文献标识码文章编号引言基于的是由配臵存储器和受其控制的可配臵逻辑资源这两层抗动态刷新的仿真验证技术研究论文原稿郑晓云，陶淑苹，冯汝鹏......”。

8、“.....郝亚男，高欣，许仕龙型的容错技术中国集成电路，黄丽百万门级专用集成电路的验证西安电子科技大学，。摘要型在航天领域动态刷新的仿真验证技术研究论文原稿。结语验证最求的是零验漏，除了上述的从功能结构分解的功能测试点外，还应该从性能接口安全和恢复性各方面对设计进行高效和全面的验证，如重载时间回读周期和刷新周期等性能测试，所有接口时序测试，复位后故障，达到的抗单粒子效应最好，因此被最普遍用于航天产品设计中......”。

9、“.....设计的基本思想是对型的上电加载过程进行控制，然后通过回读验证技术回读配臵区比特流，判定和定位配臵区程序的翻转而提前作出决策，提高验证的整体质量。参考文献赵刚基于配臵比特流的容错技术的研究北京化工大学，王文炎，罗磊，张莹，于庆奎宇航用型应用指南中国航天科技集团公司标准郑晓云，陶淑苹，冯汝鹏，王绍舉型抗单粒子翻转和局部刷新的配臵存储器，避免空间的单粒子翻转效应。本文对消除单粒子效应造成的软故障的方式进行介绍......”。