1、“.....它的第水平安排在第号试验中，对应的晶粒平均直径分别为，，，其和为，记在这行的第三列中。类似的，这行的三个数分别是因素的第水平所在的试验中对应的测试的平均直径之和。这行由于因素只有两个水平，所以这行只有两个数，分别的因素的第水平所在的试验中对应的测试的直径之和。这行的数，分别是这行中三个数除以相应的个数所得的结果，也就是各水平对应的平均值。这里值得我们注意的是，因素的第三水平实际上就是第二水平，我们把正交表中地第三列的因素是水平安排又重写次，两边用虚线标出，对应的列在右边，这列中是真正的水平安排。由于这列中没有第三水平，因此在求和时并没有，只出现和。因素的第二水平共出现了次，在求平均值时是除以，即第水平共出现了次，所以。同列中的的最大值减去最小值所得的差就是极差。般各列的极差是不同的，这说明各因素的水平改变时对实验指标的影响是有差别的。极差越大说明这个因素的水平改变时对实验指标的影响越大。检查最大的那列，就是那个因素的水平改变时对实验指标的影响最大，称为主要因素。表中算出个列的极差分别为，，显然第列中的极差最大，说明因素的水平改变时对试验指标的影响最大......”。

2、“.....，，以第水平所对应的数值最小，所以取它的第水平最好。第列中因素的极差为,它的三个水平所对应的循环淬火后晶粒直径的平均值分别为，，，以第水平所对应的数值最小，所以取它的第水平最好。第列中因素的极差为，它的两个水平所对应的循环淬火后晶粒直径的平均值分别为，，以第水平所对应的数值最小，所以取它的第水平最好。即此实验的最优方案是，对应的快速循环淬火工艺为淬火加热温度，保温时间，循环次数次。这与通过观察组织得出的结果相同，即上述方案为本试验中的最佳工艺。金相显微组织分析从上面各显微组织中选择钢原始组织与最佳超细化工艺的显微组织比较如下原始组织正火的晶粒大小水淬次后的晶粒大小饱和苦味酸加立白洗洁剂饱和苦味酸加立白洗洁剂图钢原始组织与最佳细化组织比较从上面图比较可知,钢经水淬次后的晶粒得到了很大的细化。循环热处理工艺之所以能够细化晶粒，这是因为晶粒度是指室温下稳定组织的晶粒，即我们所看到的晶界都是原奥氏体晶粒的晶界，晶粒中的组织是。当加热时，奥氏体会在组织中形核并长大，即原来比较大的奥氏体晶粒中同时有许多地方形核长大成些较小的奥氏体......”。

3、“.....原来个比较大的晶粒被分解成些较小的晶粒。再次重复此过程，第次得到的较小的晶粒会被重新细化，多次重复即可得到超细化晶粒。通过细化奥氏体晶粒可以细化马氏体束尺寸,从而提高钢的强度和韧性,还可以改善钢的耐延迟断裂性能和抗疲劳性能。淬火工艺参数对钢组织和性能的影响淬火加热温度对奥氏体晶粒尺寸的影响图表示了不同加热温度，相同保温时间和淬火次数下奥氏的体晶粒尺寸。水淬次水淬次饱和苦味酸加立白洗洁剂饱和苦味酸加立白洗洁剂水淬次饱和苦味酸加立白洗洁剂图钢不同淬火温度下的组织下图是加热温度与奥氏体晶粒大小的关系图。所取数据为淬火次的试样。淬火温度对奥氏体尺寸的影响淬火温度晶粒度等级图加热温度与奥氏体晶粒大小的关系从图中可以看出，在同淬火次数下，随着加热温度的升高，晶粒度等级越来越高，即奥氏体晶粒直径越来越小。在同淬火次数和保温时间下，随着加热温度的升高，奥氏体晶粒也随着变的细小。图中的曲线规则不是很准确，这可能与实验过程中的操作影响有关。钢的含量不高，也就意味着碳原子通过的界面扩散的路径少，奥氏体的形成和均匀化都较慢。故提高加热温度，不但提高了奥氏体的形核率也增加了奥氏体的长大速度......”。

4、“.....从而奥氏体晶粒逐渐变小。淬火加热保温时间对奥氏体晶粒尺寸的影响图表示了不同保温时间，相同淬火温度和淬火次数下奥氏的体晶粒尺寸。水淬次后的晶粒大小水淬次后的晶粒大小饱和苦味酸加立白洗洁剂饱和苦味酸加立白洗洁剂图钢不同保温时间下的组织下图是个淬火加热温度和下，奥氏体晶粒大小的变化趋势。所取数据为淬火次的试样。保温时间对奥氏体晶粒的影响保温时间奥氏体晶粒等级图保温时间与奥氏体晶粒大小的关系从图中可以看出，在相同的淬火温度和淬火次数下，随着保温时间的增加，奥氏体晶粒直径越来越小。这是因为在定温度范围内，保温时间越长，使得在加热奥氏体化时，在减小奥氏体的形核率的同时还推迟了奥氏体均匀化和碳化物的熔解的时间。因此随着保温时间的延长奥氏体不断形核，而奥氏体长晶粒大的速度却较慢，所以奥氏体晶粒尺寸逐渐减小。循环淬火次数对奥氏体晶粒尺寸的影响图表示了相同保温时间和相同淬火温度下不同淬火次数下奥氏体的晶粒尺寸......”。

5、“.....循环淬火次数对奥氏体晶粒尺寸的影响淬火循环次数奥氏体晶粒度图淬火循环次数与奥氏体晶粒大小的关系从图中可以明显的看出，随着淬火次数的增加，奥氏体平均晶粒直径越来越小。这是因为每次加热淬火都要经历奥氏体化，在快速加热，短时保温的工艺下，每次奥氏体化晶粒就被细化次。奥氏体晶粒大小和室温下组织大小的关系通常，奥氏体晶粒越细小，其室温下的组织也越细小。此外，奥氏体晶粒大小还会影响钢在冷却时的转变特点。以珠光体转变为例，奥氏体越细，珠光体转变进行得越快。这是因为珠光体的形核位置是在奥氏体的晶界或晶界处的先共析相。珠光体的长大是受原子通过及的扩散速度控制的。奥氏体晶粒越细，晶界越多，就为珠光体的形核和长大提供了有利条件。长大速度越大，珠光体的片层间距越小，其机械性能也越高。同样，奥氏体晶粒大小也影响马氏体束块或板条的尺寸大小。马氏体转变的切变性和变温形成极速长达的特性，使得原奥氏体晶界细化马氏体束块或板条的效果最明显。第章结论本次论文利用普通空气电阻炉加热，采用快速循环加热淬火细化晶粒的工艺，对钢进行晶粒细化......”。

6、“.....是写选通信号，低电平有效将上的数据写入的莫单元，或写入。为读选信号，低电平有效时候，将单元的内容读至数据总线或将的内容读至数据总线。为口。根通用端线口。数据的输入或输出的方向由可编程的命令寄存器的内容决定。为通用的的端口线数据的输入或输出的方向由可编程程序命令寄存器的内容决定。为口。根线既有通用口功能，有具有对端口和起种控制功能。各种功能的实现均由可编程序的命令寄存器的内容决定。定时器时钟输入端。定时器计数器输出端，其输出信号是矩形还是脉冲数输出单个信号还是连续信号，则由定时器计数器的工作方式决定。应用于键盘接口电路和显示接口电路。包含个位，字节的，两个位的定时器，四个位并行口，个全双功能串行口，可扩展的外部程序存储器和数据存储器的容量含字节，具有个中断源并配有两个优先级，还有个特殊功能寄存器。他是个有根引脚的双列直插式器件。编程和正常操作的电源电压端，电压为地电平。口位双向口，既是数据线，又是低位地址线，分时使用。口位双向口，可供用户使用的接口。口位双向口，系统外部存储器扩展时，作高位地址线使用，系统扩展时，也可供用户使用。口位双向口......”。

7、“.....工作于第二功能时，各端口定义如下，串行输入，串行输出,外部中断输入，外部中断输入，定时器外输入端，定时器外输入端,写信号,读信号访问外部存储器时用于锁定地址低位字节的地址锁存允许输出。提供个定时信号，在与外部存储器存取数据时，把口的低位地址字节锁存到外接的锁存器中。程序存储器允许输出，是外部程序存储器的读选信号。为高电平时，执行程序内部程序存储器的指令。为低电平时执行外部程序存储器指令。使用单片机必须接地。振荡器的反相放大器输入，使用外部时必须接地振荡器的反相放大器输出，使用外部振荡器时，接受外部震荡信号复位控制，在震荡运行时，使引脚至少保持两个机器周期为高电平时，可实现复位操作。引脚是掉电电路输入口。数据存储器，容量为字节。地址输入线，共根三态双向数据线，共根片选信号端，选通时是低电平，是高电平选通信号输入线，低电平有效写选通信号输入线，低电平有效电源地电平高电平有效，可用于掉电保护。程序存储器容量为。地址输入线，共根数据输出线，共根片选线，低电平有效数据输出选通线，低电平有效编程脉冲输入线编程电源。进行片内存储单元的选择，先把引脚与地址锁存器位地址对应连接......”。

8、“.....这样芯片内存储单元的选择问题就解决了。地址锁存器单片机规定口提供低位地址线。同时又要作为数据线，所以是个分时输出低位地址和数据通道。为了把地址信息分离出来保存提供外接存储器的低位地址信息，是输出端，是片选端，选通端与单片机的地址锁存信号连接，当选通端时，的输出端与输入端相通，当端从高电平返回低电平时，输入信息就被锁存入中。译码器即对三个输入信号进行译码，得到个输出状态和为使能端或译码允许端，当时，时，该译码器可功率放大电路功率放大电路分为单电源和双电源型。单电源型线路简单，但效率不高，果第三列中的因素，它的第水平安排在第号试验中，对应的晶粒平均直径分别为，，，其和为，记在这行的第三列中。类似的，这行的三个数分别是因素的第水平所在的试验中对应的测试的平均直径之和。这行由于因素只有两个水平，所以这行只有两个数，分别的因素的第水平所在的试验中对应的测试的直径之和。这行的数，分别是这行中三个数除以相应的个数所得的结果，也就是各水平对应的平均值。这里值得我们注意的是，因素的第三水平实际上就是第二水平，我们把正交表中地第三列的因素是水平安排又重写次，两边用虚线标出，对应的列在右边......”。

9、“.....由于这列中没有第三水平，因此在求和时并没有，只出现和。因素的第二水平共出现了次，在求平均值时是除以，即第水平共出现了次，所以。同列中的的最大值减去最小值所得的差就是极差。般各列的极差是不同的，这说明各因素的水平改变时对实验指标的影响是有差别的。极差越大说明这个因素的水平改变时对实验指标的影响越大。检查最大的那列，就是那个因素的水平改变时对实验指标的影响最大，称为主要因素。表中算出个列的极差分别为，，显然第列中的极差最大，说明因素的水平改变时对试验指标的影响最大，因此因素是主要因素它的三个水平所对应的循环淬火后晶粒直径的平均值分别为，，，以第水平所对应的数值最小，所以取它的第水平最好。第列中因素的极差为,它的三个水平所对应的循环淬火后晶粒直径的平均值分别为，，，以第水平所对应的数值最小，所以取它的第水平最好。第列中因素的极差为，它的两个水平所对应的循环淬火后晶粒直径的平均值分别为，，以第水平所对应的数值最小，所以取它的第水平最好。即此实验的最优方案是，对应的快速循环淬火工艺为淬火加热温度，保温时间，循环次数次。这与通过观察组织得出的结果相同......”。