有否无否无火花四溅，短路无火花四溅，短路有火花四溅，短路有从两端逐渐熔化到中间有否注我们此次测量以为限。假如熔体熔断时间超过，我们就把这种熔体标注为不能熔断。实验数据总结从上述图表中，我们可以得到随着电压上升，由原来的两个熔体增加到后面的四个熔体可以熔断。在状态下，只有两个快速熔断。原因是两个电阻只有几欧姆，电阻很小。我们根据公式我们可以得到公式我们从公式中就可以直接得出当电压定时，我们产生的热量只和电阻成反比。即电阻越小，产生的热量越大。则我们可以从数据表格中，看出在种类型的电压下，银含量的熔体均快速反应。因为这个两个熔体的电阻分别是和。是所以电阻中最小的两个。随着电压的升高时，当产生相同的热量，电阻也可以相对应的升高。所以，从表格中，可以看出增加了个了在后熔断的。这个反应速度改变与材料成分和熔点有关系。当电压增到，又出现了个可以熔断，原来的就变成了瞬间反应完成的。所以，我可以看出，任何数据的改变体现在电压和电阻方面。从电压上观察，固定个电阻改变电压大小看熔断时间的快慢。图熔断时间与电压关系注测量时间限定范围是，所以没有熔断的熔体，其反应时间以来测量。从上面的数据我们可以看出电压升高后，熔断的时间越短。从公式上论文，如果电阻定后，电流越大提供的能量就越多，所以我们看出电压越大速度越快。上图为能够熔断的含有玻璃粉杂质的银含量熔体。但是无杂质的银含量熔体的熔断时间随电压的增大并没有发生改变。图银含量在不同电压下的熔断时间图银含量在不痛电压下的熔断时间图银含量在不同电压下的熔断时间其实当和银含量的熔体接触电压时就瞬间熔断，仅凭肉眼是无法判断出来的。所以我们为了表示器熔断速度之迅速，就毫秒级来假设它的熔断时间。又因为的银含量多，电阻小于银含量的熔体，所以象征性的将的熔断时间设定略大于的熔断时间，以凸显两者在电阻方面的区别。结论至此，所有的实验过程已经结束了，我们需要从头思考下本次实验的设计思路。本次设计的题目是低电流电路熔断器研制。我们可以知道我们要研制出的产品是个熔断器，而我们的熔断器的类型是属于低电流范围内，即在个很低的电流下就能够熔断。而我们根据热量公式知道了如要产生很多热量就必须提高电流或者电阻的数值。但是由于我们研究的类型的是低电流范围内，所以我们能控制的变量只有电阻。我们提供的是稳定的直流电压，从另外个公式中得出如果电阻太大，有影响到热量产生。所以我们要在两者之间知道平衡选择出合适的电阻大小。我们从系列的实验，可以看到个满足以上条件的，就是银含量，玻璃粉含量，在温度下煅烧的熔体。在电压的工作电流是，该电流属于低电流范围之内，且能够熔断，虽然不是快速反应。但是能够完成了我们所设计的切指标。由于时间水平和经验上不足和有限，在制作规格上尚有不足的地方，需要加强改进和大规模的提高规格的精确度。同时时间上的限制使得设计的样本数不足，只能进行粗糙的验证，不能做到精确验证。对于本次毕业设计，我将其当成对我四年来的学业知识和动手能力的综合检验。通过本次毕业设计，我面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为第三次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第二次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片从上面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为第四次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第二次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间有平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片玻璃粉含量极其稀少可以忽略不计。由于电阻超过万用表的测量范围，故不再测的具体数值。第五次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第五次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间无平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片从上面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为第六次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第二次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间无平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片从上面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为数据分析此次进行的实验所采用的数据方式是固定变量法，就是只设定个变量，而其他所有的变量均不改变。此种比较方法更能得到客观的数据以及精确的判断。我们分析数据的同时，可以提出合理的解释方案，这样可以使得数据更加具有说服力。本次实验所设定的变量主要有煅烧温度是否加入玻璃粉以及银粉的含量从温度上分析我们在的银含量的标准时，选择了三个温度点，分别是。然后我们可以从得到的结果中看到在时是在时加入了玻璃粉是在时大于。从这些数据，温度升高，电阻不断的升高。原因是银粉在加温过程中升华了，所以温度越高，升华的银粉量就越多。银粉的含量越少就会使得电阻变大。所以我们可以从得到的数据中，发现了这个规律。由于本次只是探索性的课题，并不能做到十分的精确，所以我们只选取三个量，而不会选取个量以上，所以在折线图上显示的非常粗糙。图熔体电阻和煅烧温度关系注对于的电阻，我们以作为封顶。从玻璃粉含量分析对于本次分析，我们可以观察第二次实验结论和第三次实验结论。我们可以看出，在第二次实验中，我们得到的电阻是，而在第三次试验中加了的时候，得到的电阻就直接飙升到。我们不难发现，仅仅是的玻璃粉，就使得双方面的电阻差距如此之大。所以我们提出合理的怀疑就是由于加入玻璃粉方面由于玻璃粉自己的颗粒很大，占了很大的空间，使得银粉的含量减少了，从而降低了电阻。从另方面自己就是个电阻很高的绝缘体。由于双方面的作用使得电阻降低了很多。图玻璃粉含量比较从银粉含量分析图电阻与银粉含量的关系在分析银粉含量时，我们选取第二次实验数据第五次实验数据第六次实验数据。我们看到这三次实验均无玻璃粉的加入，且变量只有银粉含量的改变。我们可以很清楚的看到，变化最明显的是含银和含银的区别。在含量是电阻是，含量时的电阻是，的含量时电阻是。从图中我们可以看到，在含量就有明显的变化，而且是质变。在到含量时的改变就不是特别大。所以，我们可以提出怀疑是金属导电能力的强弱体现在自由电子的否学到险有火灾爆炸和粉尘等。二重大危险源辨识该厂加工生产和储存，只涉及到种危险化学品，即硫磺，硫磺未被列入重大危险源辨识中的危险物质名录内，同时也不在关于开展重大危险源监督管理工作的指导意见安监管协调字号的重大危险源申报范围之内，故该厂无重大危险源存在。第四节事故的事故树分析触电事故的事故树分析事故树分析的基本步骤确定分析对象系统和主要分析的各对象事件顶上事件通过经验分析事件分析故障类型和影响分析确定顶上事件，何时何地何类明确对象系统的边界分析深度初始条件前提条件和不考虑条件，熟悉系统据相关资料工艺设备操作环境事故等方面的情况和资料。确定系统事故发生概率事故损失的安全目标值。调查原因事件。调查与事故有关的所有直接原因和各种因素设备故障人员损失和环境不良因素。编制事故树从顶上事件起，逐级往下找出所有原因事件填到最基本的原因事件为，止，按其逻辑关系画出事故树。每个顶上事件对应株事故树。定性分析按事故树结构进行简化，求出最小割集和最小径集，确定各基本事件的结构重要度。定量分析找出各基本事件的发生概率，计算出顶上事件的发生概率，求出概率重要度和临界重要度。结论当事故发生概率超过预定目标值时，从最小割集着手研究降低事故发生概率的所有可能方案，利用最小径集找出消除事故的最佳方案通过重要度重要度系数分析确定采取对策措施的重点和先后顺序从而得出分析评价的结论。具体分析时，要根据分析的目的人力物力条件分析人员的能力选择上述步骤的全部或部分内容实施分析评价。事故树定性分析定性分析包括求最小割集最小径集和基本事件结构重要度分析。最小割集割集与最小割集在事故树中凡能导致顶上事件发生的基本事件的集合称作割集最小割集是指导致顶上事件发生的最低限度的基本事件的集合。最小割集的求法对于已化简的事故树，可将事故树结构函数式展开，所得各项即为各最小割集对于尚未化简的事故树，结构函数式展开后的各项，尚需用布尔代数运算法则如吸收率德摩根律等等进行处理，方可得到最小割集。最小径集又称最小通集。在事故树中凡是不能导致顶上事件发生的最低限度的基本事件的集合，称作最小径集。在最小径集中去掉任何个基本事件，便不能保证定不发生事故。因此，最小径集表达了系统的安全性。最小径集的求法是将事故树转化为对偶的成功树，求成功树的最小割集即事故树的最小径集。结构重要度∈根据计算结果确定出结构重要度的次序。事故树定量分析定量分析是在求出各基本事件发生概率的情况下，计算顶上事件的发和天概率。计算事故树顶上事件事故发生概率的计算过程可采用自下而上方式分步进行。具体作法是收集树中各基本事件事故发生概率由最下面基本事件开始计算每个逻辑门输出事件的发生概率将计算过的逻辑门它补充的措施及建议对员工进行的定期健康查体，应建立健康监护档案。在加料搬运装卸操作过程中，禁止使用易产生火花的机械设备和工具。及时清扫生产车间原料货台等处洒落的物料，防止引发火灾。第八章安全评价报告第节安全评价单元划分根据本单位的实际情况，参考危险化学品生产企业安有否无否无火花四溅，短路无火花四溅，短路有火花四溅，短路有从两端逐渐熔化到中间有否注我们此次测量以为限。假如熔体熔断时间超过，我们就把这种熔体标注为不能熔断。实验数据总结从上述图表中，我们可以得到随着电压上升，由原来的两个熔体增加到后面的四个熔体可以熔断。在状态下，只有两个快速熔断。原因是两个电阻只有几欧姆，电阻很小。我们根据公式我们可以得到公式我们从公式中就可以直接得出当电压定时，我们产生的热量只和电阻成反比。即电阻越小，产生的热量越大。则我们可以从数据表格中，看出在种类型的电压下，银含量的熔体均快速反应。因为这个两个熔体的电阻分别是和。是所以电阻中最小的两个。随着电压的升高时，当产生相同的热量，电阻也可以相对应的升高。所以，从表格中，可以看出增加了个了在后熔断的。这个反应速度改变与材料成分和熔点有关系。当电压增到，又出现了个可以熔断，原来的就变成了瞬间反应完成的。所以，我可以看出，任何数据的改变体现在电压和电阻方面。从电压上观察，固定个电阻改变电压大小看熔断时间的快慢。图熔断时间与电压关系注测量时间限定范围是，所以没有熔断的熔体，其反应时间以来测量。从上面的数据我们可以看出电压升高后，熔断的时间越短。从公式上论文，如果电阻定后，电流越大提供的能量就越多，所以我们看出电压越大速度越快。上图为能够熔断的含有玻璃粉杂质的银含量熔体。但是无杂质的银含量熔体的熔断时间随电压的增大并没有发生改变。图银含量在不同电压下的熔断时间图银含量在不痛电压下的熔断时间图银含量在不同电压下的熔断时间其实当和银含量的熔体接触电压时就瞬间熔断，仅凭肉眼是无法判断出来的。所以我们为了表示器熔断速度之迅速，就毫秒级来假设它的熔断时间。又因为的银含量多，电阻小于银含量的熔体，所以象征性的将的熔断时间设定略大于的熔断时间，以凸显两者在电阻方面的区别。结论至此，所有的实验过程已经结束了，我们需要从头思考下本次实验的设计思路。本次设计的题目是低电流电路熔断器研制。我们可以知道我们要研制出的产品是个熔断器，而我们的熔断器的类型是属于低电流范围内，即在个很低的电流下就能够熔断。而我们根据热量公式知道了如要产生很多热量就必须提高电流或者电阻的数值。但是由于我们研究的类型的是低电流范围内，所以我们能控制的变量只有电阻。我们提供的是稳定的直流电压，从另外个公式中得出如果电阻太大，有影响到热量产生。所以我们要在两者之间知道平衡选择出合适的电阻大小。我们从系列的实验，可以看到个满足以上条件的，就是银含量，玻璃粉含量，在温度下煅烧的熔体。在电压的工作电流是，该电流属于低电流范围之内，且能够熔断，虽然不是快速反应。但是能够完成了我们所设计的切指标。由于时间水平和经验上不足和有限，在制作规格上尚有不足的地方，需要加强改进和大规模的提高规格的精确度。同时时间上的限制使得设计的样本数不足，只能进行粗糙的验证，不能做到精确验证。对于本次毕业设计，我将其当成对我四年来的学业知识和动手能力的综合检验。通过本次毕业设计，我