除在外。瑕疵面积的计算法在本系统中瑕疵的面积可以直接用来代替，当瑕疵面积小于人为设定的参数时，我们就对该瑕疵判断为合格。反之，则判断为不合格。瑕疵长的计算法计算瑕疵长时，基于瑕疵的线性特征，首先对瑕疵做细化操作，得到单像素宽的瑕疵骨架曲线。瑕疵的长度实际上就是骨架图像骨干点之间的长度之和。骨化后的图像是个单像素宽度的连通性好的骨干图像。可以分别求取相邻像素之间的长度，然后把所有的相邻像素之间的距离求和即为所得，如下式公式,和,是相邻骨干点的两个点是水平方向的比例因子，即水平方向上的像素个数与实际情况水平长度的比值是垂直方向的比例因子，即水平方向上的像素个数与实际情况垂直长度的比值是两个相邻像素之间的长度。总长度即为所有相邻像素之间的长度之和。当瑕疵长小于人为设定的参数时，我们就对该瑕疵判断为合格。反之，则判断为不合格。瑕疵宽的计算法计算瑕疵宽时，仍然对瑕疵做细化操作后，骨架各点所在的瑕疵的位置的宽度反应出瑕疵各段的宽度。由于骨架曲线是单像素曲线，则个骨架点与相邻点的其他两个骨架点相接，分别求出与相邻点的斜率。则每个斜率的垂线与瑕疵边缘相交两点，两点的连线的大小即为宽度值。比较这两个宽度值其中较小的为这个瑕疵的宽度。设骨架曲线的其中个骨架点用,表示，其相邻骨架点分别为,和,。骨架线在点的斜率近似用直线的,,,,,导师评语率表示，则斜率表示为公式过骨架点斜率为的直线与瑕疵图像边缘交于两点，记为,。则此瑕疵的宽度表达式为公式同理，骨架线在点的斜率近似用直线表示，同样的原理求出，然后比较与的大小，取较小值作为瑕疵的宽度。最后结果,。当瑕疵宽小于人为设定的参数时，我们就对该瑕疵判断为合格。反之，则判断为不合格。实际的检测效果如下，图密封圈灰度图为相机步骤到的密封原图，图算法最终的处理结果为本算法得到的最终的处理结果，可以看到，所有位于密封圈表面上的瑕疵都被检测出来了图密封圈灰度图图算法最终的处理结果实验结果我们的最终成果如图所示，我们已经搭建出了检测平台包括相机光源嵌入式主板触摸屏显示器等元素。软件的识别算法也能达到预计的水平。图成果图本章小结本章主要讲述了密封圈表面识别算法的主要流程。并对每个步骤用文字公式和图片的方式进行了详细的解说。第章总结与展望本文讲述了密封圈的图像采集结束后如何通过利用嵌入式图像处理技术，对密封圈上的瑕疵图像进行处理，提取出瑕疵的信息，并对瑕疵的特征参数与密封圈合格标准参数进行比较，筛选出合格的密封圈的过程。根据瑕疵的特有的特征，对比当前流行的图像识别算法，改进出套更加适合密封圈检测的图像识别算法。算法中对均值滤波和中值滤波图像二值化特征提取等过程均作了改进。实现了较为快速适合的密封圈识别算法。当前所有的算法都是用语言在上实现的，但是能否直接用在工业上检测密封圈，该算法还需要在速度上和精确性上得到提高，在之后的这段时间我会继续努力在机器视觉上寻求新的突破。将来展望机器视觉将完全代替人工肉眼完成所有的检测识别。参行分区域统计。遍历图片内存。统计的区域划分如图所示图分区域法示意图对蓝色区域的共个区域分别进行直方图统计，每个区域都求出相对应的阈值，遍历该区域内的像素点成员当,的像素值与阈值之间的灰度差距大于人为设定的参数时，就说明该点与周围像素环境之间存在着明显的不同。可将该点的灰度值赋值为。否则该点赋值为。公式如下当时当时公式最终从得到的新二值图像内存数组命名为。该数组的亮度信息如图所示。图二值图可以在上图中看出，瑕疵的信息因为局部二值化的关系而被很好的保留了下来。瑕疵特性参数计算瑕疵特征的提取主要包括瑕疵面积长度和宽度的计算等。为了要提取出这些信息，可以用区域生长法来完成。区域生长法提取普通的区域生长法是连通法。就是对个点的上，左上，右上，左，右，下，左下，右下共个方向进行遍历扫描，如果在该遍历方向上也存在与当前遍历点的像素值相同的点时，就将该个点看做都是属于同个瑕疵上的像素点。但是考虑到当前系统中捕捉到的瑕疵往往是属于狭长的缝。而用连通法提取狭长缝隙的信息时就很有可能就会造成缝的断裂。最终会导致将条缝的信息分为了块或多块连通区域信息来处理。为了避免这现象，我们将区域生长法做了如下改进首先定义下瑕疵的结构体数组用来保存每个瑕疵的信息，结构体成员信息可以是瑕疵长，瑕疵宽，瑕疵面积等等。本系统采用的是可调节的全方位拓展法求区域生长。设每个方向上向外拓展个像素。如图全方位拓展法求所示，点上的每个方向的像素都向外拓展了个像素，即。入队出队图全方位拓展法求区域生长扫描内存数组信息里的目标圆环区域，如果发现点的像素值,等于时，就将该点标记为点，并堆入队列中。每次遍历队列，如果发现队列不为空，就让队尾元素出队，出队的同时，记录下当前出队的点的坐标位置并以该点做为基准往个方向连通个像素出去，形成个的窗口如图全方位拓展法求所示。遍历窗口里的点成员如果该点位于内存数组的目标圆环检测区域内，并且该点对应的像素值,等于时，就亦将该点标记为点，并堆入队列中。如此依次循环。在往复的过程中如果发现当前出队点的轴坐标小于在它之前出队的点的轴，就将的值赋值给变量。如果发现当前出队点的轴坐标大于在它之前出队的点的轴，就将的值赋值给变量。如果发现当前出队点的轴坐标小于在它之前出队的点的轴，就将的值赋值给变量。如果发现当前出队点的轴坐标大于在它之前出队的点的轴，就将的值赋值给变量。直循环到队空为止。此时，则说明条瑕疵的信息遍历结束。记录下此时的，四个值，并统计好之前的入队的个数。则有公式公式这样，对于瑕疵信息数组，每个成员都代表的是每个瑕疵在维图像上的所有信息。瑕疵的判断虽然我们根据全方位拓展法求得了瑕疵数组。但是并不是所有的瑕疵都会影响产品的合格与否。所以我们还要通过计算各个瑕疵的特性，排除掉些无关紧要的瑕疵。对于般密封圈表面来说，些很小的点瑕疵，极短的缝瑕疵，以及位于圆环表面的瑕疵都对密封圈的使用没有任何影响。所以我们要通过计算，将这些瑕疵排考文发布。项目介绍公派出国留学服务咨询举办北京国际教育博览会评选外国学生和学者的奖学金外籍教师的管理海外人才数据库外国高校来中国实习的办理对为汉语教学自费中介留学英语教师的培训表格下载公派出国表格出国申请表格博览会报名表格教与学活动的表格。联系我们我们的服务宗旨和联系方式。海外人才子系统主要是外籍教师和海外实习生的注册及发布求职信息，用人单位注册及发布用人信息，中心管理人员对所有注册用户的资料审查。表海外人才子系统功能表栏目功能会直记在心上。最后只有句话谢谢大家,选择种最适合他们特定需要的解决方案。只在上运行，这种专有策略的目标是将客户锁定到环境中。由于紧密的捆绑在平台上，所以，只有随着操作系统可靠性开放性以及性能的改善，的开放性和可靠性才能进步提高。在平台系统方面，支持所有的平台，所有的类型，平台稳定性得到大家的致认可。鉴于的兼容性和稳定性方面的考虑，从长期使用角度，应当推荐使用数据库。表与对比支持的操作系统微软的操作系统切主流平台，包括易用性方便的人机交互界面拥有人机交互界面，同时拥有命令行格式，支持脚本操作跨平台访问无支持信息机构环境中不同系列的计算机群即保证用户当前软硬件下的完全兼容。功能相对较少功能强大，但使用比较复杂数据库链接在下可以使用桥接也可以使用自带的类库只能使用自带的类库和开源架构方式通常在中用于建立用户接口。通过对中蕴藏的设计模式可以帮你理解我们所说的模式的含义。包括三类对象，是应用对象为其屏幕表示定义了对用户输入的处理反应方式。在应用方式以前，通常将这三个对象的功能合到了起，应用分离了它们，为设计提供了灵活性和可重用性。通过在和之间建立协议，分离了和对象。对象必须保证它的表示反应了对象的状态，当对象的数据改变时，对象通知对象，作为对这行为的反应，每个对象得到了个做出更新的机会。这种方式使得可以将多个对象为个对象提供不同的表示。你也可以为对象建立新的对象，而不用重新编写。从表面看，这例子反应了个将和分离的设计。然而，这种设计适合类更通用的问题减少对象之间的藕和性，这样，当个对象改变时，将不会影响到另外的对象，甚至不需要知道另外的对象的实现细节。这种更通用的模式将在模式中来描述。方式的另个特点是，对象是可嵌套定义的。例如，的控制板可由个包含嵌套对象的复杂对象来实现对象观察器的用户接口可由能重用于调试器的嵌套对象组成。方式采用类的子类来支持嵌套，其行为与对象的行为致，可用于对象能使用的任何场合。于是，我们又可以把这种对待就即这样个对象，它表示了种算法。这在你想要替换算法无论是静态替换还是动态替换时特别有用，而这样的算法可能有许多的变量或者拥有复杂的数据结构。中也使用了别的设计模式，例如，使用模式来描述视图的默认控制器类采用模式来为视图增加滚动条等。但在中的主要模式是前述的和设计模式。是软件组织提供的项开放源码项目，它为应用提供了模型视图控制器，简称框架，尤其适用于开发大型可扩展的应用。这个名字来源于在建筑和旧式飞机中使用的支持金属架。为除在外。瑕疵面积的计算法在本系统中瑕疵的面积可以直接用来代替，当瑕疵面积小于人为设定的参数时，我们就对该瑕疵判断为合格。反之，则判断为不合格。瑕疵长的计算法计算瑕疵长时，基于瑕疵的线性特征，首先对瑕疵做细化操作，得到单像素宽的瑕疵骨架曲线。瑕疵的长度实际上就是骨架图像骨干点之间的长度之和。骨化后的图像是个单像素宽度的连通性好的骨干图像。可以分别求取相邻像素之间的长度，然后把所有的相邻像素之间的距离求和即为所得，如下式公式,和,是相邻骨干点的两个点是水平方向的比例因子，即水平方向上的像素个数与实际情况水平长度的比值是垂直方向的比例因子，即水平方向上的像素个数与实际情况垂直长度的比值是两个相邻像素之间的长度。总长度即为所有相邻像素之间的长度之和。当瑕疵长小于人为设定的参数时，我们就对该瑕疵判断为合格。反之，则判断为不合格。瑕疵宽的计算法计算瑕疵宽时，仍然对瑕疵做细化操作后，骨架各点所在的瑕疵的位置的宽度反应出瑕疵各段的宽度。由于骨架曲线是单像素曲线，则个骨架点与相邻点的其他两个骨架点相接，分别求出与相邻点的斜率。则每个斜率的垂线与瑕疵边缘相交两点，两点的连线的大小即为宽度值。比较这两个宽度值其中较小的为这个瑕疵的宽度。设骨架曲线的其中个骨架点用,表示，其相邻骨架点分别为,和,。骨架线在点的斜率近似用直线的,,,,,导师评语率表示，则斜率表示为公式过骨架点斜率为的直线与瑕疵图像边缘交于两点，记为,。则此瑕疵的宽度表达式为公式同理，骨架线在点的斜率近似用直线表示，同样的原理求出，然后比较与的大小，取较小值作为瑕疵的宽度。最后结果,。当瑕疵宽小于人为设定的参数时，我们就对该瑕疵判断为合格。反之，则判断为不合格。实际的检测效果如下，图密封圈灰度图为相机步骤到的密封原图，图算法最终的处理结果为本算法得到的最终的处理结果，可以看到，所有位于密封圈表面上的瑕疵都被检测出来了图密封圈灰度图图算法最终的处理结果实验结果我们的最终成果如图所示，我们已经搭建出了检测平台包括相机光源嵌入式主板触摸屏显示器等元素。软件的识别算法也能达到预计的水平。图成果图本章小结本章主要讲述了密封圈表面识别算法的主要流程。并对每个步骤用文字公式和图片的方式进行了详细的解说。第章总结与展望本文讲述了密封圈的图像采集结束后如何通过利用嵌入式图像处理技术，对密封圈上的瑕疵图像进行处理，提取出瑕疵的信息，并对瑕疵的特征参数与密封圈合格标准参数进行比较，筛选出合格的密封圈的过程。根据瑕疵的特有的特征，对比当前流行的图像识别算法，改进出套更加适合密封圈检测的图像识别算法。算法中对均值滤波和中值滤波图像二值化特征提取等过程均作了改进。实现了较为快速适合的密封圈识别算法。当前所有的算法都是用语言在上实现的，但是能否直接用在工业上检测密封圈，该算法还需要在速度上和精确性上得到提高，在之后的这段时间我会继续努力在机器视觉上寻求新的突破。将来展望机器视觉将完全代替人工肉眼完成所有的检测识别。参