检测忙信号为低时，才可对模组进行串行数据传输。控制流程图如图所示图写入操作的操作流程在次完整的控制操作过程当中，在控制指令以及指令所要求的数据传输结束之前，务必保证信号为低，否则将中断此次控制操作。第章系统调试系统硬件调试字节写入函数从高位起传送个的位数据返回整体硬件图如图所示图整体硬件图在图中，最右端的排电容为待测电容中间绿色的板是向导师借的块废板改装而成，在上面有电容测量芯片和矩阵开关左侧为的最小系统板图中的块小板上焊着些必要的滤波电容，以及电源和地线的拓展图的最下面是液晶。图为自制仿真器与最小系统板。图最小系统及仿真器硬件图硬件的调试主要是元件焊接，引脚非常多，焊了几次都没办法达到理想的效果，于是就请了个研究生同学帮忙，然而这款芯片就非常的不好焊了。它是封装，是种无引脚封装，呈正方形或矩形，封装底部中央位置有个大面积裸露焊盘用来导热，围绕大焊盘的封装外围四周有实现电气连结的导电焊盘。由于它无引脚，所以它不能像往常那种贴片芯片样焊。只能用热风枪吹。以前从来没用过热风枪焊芯片，焊之前很紧张。在焊的时候首先要在每个焊盘上涂上锡，然而中间的焊盘上锡要慎重，旦涂上过多的锡，在最后向下按芯片使它焊接更牢固的时候会使得中间焊盘多余的锡向外溢出，而使得些引脚短路。出现这种情况非常难办，从外便很难把锡吸吸出来，而中间焊盘锡的溢出就意味着中间焊盘焊得很牢固，想拆下来就很难。就因为这样我在拆卸的过程中不小心将焊盘上的引脚卸掉，还好脱落的不是很严重，用个电阻腿接上了，使系统依旧可以正常工作。系统软件调试在最开始接触到时，感觉这个非常的难。因为它与单片机的编程思想很不样。有着独有的固件函数库，所有对芯片外设的操作都是基于这个库函数的。虽然它可以类似单片机，采用对寄存器直接操作的方法来控制，但是中的外设非常的丰富，其控制寄存器也非常的繁多，故要配置的东西就太多了。因此这种方式并不好用。所以还是学习些这库函数的操作体系。要写好个程序，首先要建立个工程。在库函数体系下，建立个库函数工程框架是很重要的事情。开始我是直接拷贝例程的工程，将些函数进行改动。后来我也在网上找些教程，也开始自己建立工程，添加必要的文件，对于不同版本的库函数，使用的函数也有少许区别，逐渐的建立起来个自己熟悉的工程框架。由于本系统的最小系统板并没有太多的外部应用，只有最小系统，所以想学习的外设还需要个完整的开发板。恰好有同学也在学习，我们就在起共同研究，并且做些基础实验。点亮盏，转换，串口通讯，然后就是通讯，就是与液晶之间的通讯。在调试液晶时也遇到了些困难。这款液晶我在单片机上用过，我想将程序移植过来，原来的单片机没有接口，是使用的模拟。这次的硬件在配置上就需要更深入的理解的工作模式，以便更好地移植。在移植的过程当中，最重要的问题是时序问题。要比快的多，因此在些函数的操作时序上需要很大改动。而我并没有深入的学习内核，因此这时序只能靠仿真步步的实现，以及用示波器来观察重要的时序。最终实现了显示。有了这个经验，在调试与的通讯中就方便了很多，很快就调出来了。然而最困难的是与的通讯。开始我认为它们之间的通讯与和液晶之间的通讯样，只是允许更快的串行速度，然而事实并不是这样，直只能读数据而不能写数据。这样的通讯时失败的。于是就尝试更复杂的，速度更慢的通讯。通讯的原理开始从头学起，学习的控制时序，学习的配置，通过不断地实验，终于使与成功通讯。在成功通讯之后，新的问题出现了。测量数据的问题。由于的所有操作都经过内部的，所以我开始以为还要学习如何对这个内置的编程，后来通过向公司的技术支持咨询才知道只要下载固件即可。固件可在官网上下载到，将字节的固件载入芯片的中即可开始进行测量。最终测量出电容，完成了功能。结果如图所示图测量结果显示第章技术图像重建算法线性反投影算法线性反投影算法，简称算法。是最早应用在医学技术投影领域中的算法，也是最早应用在技术图像重建中的算法，它的原理是将非线性问题转换成线性问题来得到有效的解决方案。般图像重建问题是分成两个部分来解决的正问题和逆问题。如公式所示为图像重建的求解正问题已知介电常数的分布，求出传感器各个极板之间形成的电容值。这种求解方式反映出了电容受物质分布变化所产生的影响。上式中，为测得的电容向量电容测量值矩阵，为介电常数分布矩阵，为系数矩阵。即传感器灵敏度矩阵。算法在技术中，是以灵敏度信息为权值来使用的。但是有两个假设的前提条件假设介电常数的分布对传感器灵敏度分布的影响非常微小，即可以忽略不计。电容的变化是均匀的随着介电常数的变化而变化。因此，算法是运用灵敏度加强的方法来求解像素的灰度值即公式所示的原理，如果被成像中两种介质,且εε,点击数为，那么在图像重建中，第个像素的灰度值就可以表示为式中是,极板对间的独立电容测量值为空管电容值为满管电容值。,郑贵滨等电容层析成像系统传感器的仿真分析及遗传算法图像重建系统仿真学报阎润生，刘石电容层析成像算法的比较仪器仪表学报致谢毕业设计是四年大学专业知识学习下来的次总结性的考核，它集结了我们四年的理论知识以及董事能力，也培养了我们分析问题和解决问题的能力。这次的毕业设计题目是我以前没有接触过的芯片和技术。面对陌生的领域，这着实锻炼了我快速学习的能力。我学会了面对新的知识从查找资料到认真分析讨论总结，我想这是我以后工作需要的独立能力。当然这次毕业设计并非我个人的力量就可以完成的，这里首先我要感谢我的指导老师，老师。半年以来，我得到了老师的悉心指导，老师总是在我最困惑的时候帮我解决知识上的问题，在设计和调试出现问题的时候，老师也总是及时的给我我帮助。这些都使得我可以顺利的完成毕业设计。我还要感谢我的同学们，给我的毕业设计提供新的思路，当我面对瓶颈的时候帮我出主意，会对我初步完成的设计内容给出宝贵的年。在毕业结束之际，我重新的感谢老师和所给予我帮助的同学们,附录附录部分程序代码,第个电容法测量完毕开始测量第二个电容