，负极接地，如图所示。当单片机检测出低电平时，说明二极管导通，显示屏将显示出，此时二极管是好的。当单片机检测出高电平，说明二极管没有导通，显示屏将显示，此时二极管是坏的。三极管检测是利用三极管的基极与单片机的端口连接，发射机与集电极接地，如图所示。当基极与单片机的端口连接时，液晶显示模块电容测试模块测试模块测试模块二三极管测试模块复位电路模块电源及电源指示模块主控电路模块上拉电阻模块报警电路模块图二极管和三极管测试原理图若单片机检测出低电平，则说明基极与发射机导通，若单片机检测出高电平，则说明基极与发射机不导通。当基极与单片机的端口连接，集电极接地时，若单片机检测出低电平，则说明集电极与发基极导通，若单检测出高电平，则说明集电极与基极不导通。当基极与发射机集电极与基极都导通时，则说明被测三极管是好的，显示屏将显示，反之显示屏将显示。软件设计主程序设计电子测试仪的主程序流程图如所示。系统对单片机上电之图主程序流程图后，有个短暂的延时以保证正常工作，然后对液晶显示屏初始化，直等待被测器件的按键按下，对按键进行消抖之后，如果确定有按键按下则跳到被测器件测试程序，否则直等待按键。在主程序中设臵个标志位，用来指示被测器件的好坏。系统开始检测器件后，若，说明被测器件是好的否则，说明被测器件是坏的。芯片测试程序设计芯片测试流程说明，如图所示对单片机上电之后，有个短暂的延时以保证正常工作，然后对液晶显示屏初始化，直等待的按键按下，对按键进行消抖之后，如果确定有按键按下则跳到此测试测试程序，否则直等待按键。图芯片测试流程图芯片测试是利用时基电路构成无稳态多谐振荡电路。其接口是端口，用于检测外部中断的跳变，如果检测到跳变，则外部中断的中断标志位臵位，若返回，说明芯片是好的否则，说明芯片是坏的。运放测试程序设计测试流程说明，如图所示对单片机上电之后，有个短暂的延时以保证正常工作，然后对液晶显示屏初始化，直等待的按键按下，对按键进行消抖之后，如果确定有按键按下则跳到此测试程序，否则直等待按键。图测试流程图的测试接口是端口，是利用插入的运放与外围的电阻构成个比较器，如果检测到跳变，则臵位，若返回，说明是好的否则，说明是坏的。电容测试程序设计电容测试流程说明，如图所示对单片机上电之后，有个短暂的延时以保证正常工作，然后对液晶显示屏初始化，直等待电容的按键按下，对按键进行消抖之后，如果确定有按键按下则跳到此电容测试程序，否则直等待按键。电源部分则采用直流稳压电。系列单片机可以设臵其工作在低功耗模式下，功耗低于系列的个数量级以上，拥有业界最低功耗，很适合电池组低压供电的，有严格功率限制的场合。其缺点是开发环境不熟悉，需要较长的开发周期。通过比较，从示出来。其优点是数据处理时间短，同时其单片机适合节点给定电压，不需要升压，减少了定的外围电路，但是其价格较贵，在软件处理上较复杂，在性价比和时间上有定的差距。方案三以等新型单片机为控制核心低，有利于减小系统功耗。缺点是系列单片程序处理时间相对较长，供电电压相对较高。方案二以嵌入式电路板作为控制核心内嵌Ⅱ操作系统，电路测试的信号经过单片机处理后将处理结果在液晶屏上显方案与论证方案以单片机为控制核心，电路测试的信号经单片机处理后再将处理结果在液晶屏上显示出来。其优点价格便宜，软件处理简单方便，在性价比和时间上占很大优势，特别是等单片机相对功耗较究。系统方案论证与设计根据题目要求，此电子器件测试仪由以下模块组成主控电路模块报警电路模块液晶显示模块测试模块测试模块电容测试模块二三极管测试模块，具体论证与设计方案如下。主控模块设计所以本文设计是以单片机为核心的电子器件测试仪。在设计中，各个模块的设计也是以原理简单元器件性价比高为原则。尽管本设计全方位考虑其功能实现和产品的完美，但肯定还有不足，这需要以后进行更深步的探讨和研上的检测仪不仅功能单，且价格昂贵，让许多电子设计爱好者望文却步。同时，本文设计的电子器件测试仪还可以在日常教学实验中使用，其设计原理简单，操作也十分快捷。因学生对前言在电子系统设计中，电子器件及它们的有机连接构成了各种功能电子系统的硬件。如何顺利地完成从电路图到个成型并运转正常的电子系统，需要极大的勇气和技术。无论是电路图设计有任何纰漏或焊装时有任何差错，都有可能导致电子系统无法正常工作。有时绞尽脑汁设计了个完美无瑕的系统电路，并且费尽力气正确地焊装了所有元器件，上电时系统还是会出现不工作或者与设计不同的运行效果。如果排除设计和焊装的失误，出现不正常的原因恐怕就是个或多个电子元器件本身存在质量问题，致使系统中个或多个模块状态异常。到时除了后悔当时没有仔细检查器件质量就盲目焊装，恐怕也没什么可埋怨的。各种各样的器件如电阻电容集成电路等都是由工厂生产的，虽然工厂努力把器件的出厂合格率做到，但是瑕疵还是不可避免的，这有可能是出厂检测的疏漏，也有可能是在运输储存器件时因内外部环境改变而使器件的质量发生变化。总之，我们从任何地方采购的器件谁也不能保证它们是合格的。所以，在焊装元器件之前有必要对它们进行次全面的体检，这对最终系统的正确性稳定性可靠性都非常有意义。除了使用如万用表对电阻电容二极管等器件进行检测外，还经常用到集成电路测试仪，也称测试仪。根据测试仪的型号不同，可以测量的芯片也不同，包括定时器运算放大器比较器稳压器二极管光耦驱动器和通信等。有了这样台测试仪，就像有了个听诊器，可以在焊装芯片等器件之前对其进行体检，把故障排除在萌芽阶段。在国外，为适应高可靠电子元器件发展对质量控制标准的要求，美国通过对微电子器件试验方法和程序顶层结构的剖析和典型具体细微内容的研究，来提高军用电子元器件质量检测能力。微电子器件试验方法和程序是参照美国微电路试验方法制定的。虽然是为美国军方采购微电路产品控制质量而编写的，但其应用范围远不止于此，声表器件部分固体光电子器件固体继电器晶体器件等都大量采纳其条款作为质量控制要求。它是当今世界范围内元器件质量控制标准中应用最广，最具权威性的产品基础规范。目前全球针对电子仪器测量的仪器种类繁多，功能也相当齐全。其中包括最先进的静电测试仪，数字式接地电阻测试仪，直流电阻测试仪。就拿公司仪器部生产的型无接