1、以下这些语句存在若干问题，包括语法错误、标点使用不当、语句不通畅及信息不完整——“.....其中包括有，和等三个晶带所属晶面的衬度带如图所示解根据花样分布的对称性质，可以确定晶带轴极点为根据四次对称性质为根据二次对称性质为根据三次对称性质。与此相应，过和极点的衬度带所属晶面指数正比于和的矢量积，即取同理，过和极点的衬度带所属晶面指数因衬度带的宽度与相同，故取过和极点的衬度带所属晶面指数因衬度带的宽度为的倍，故取。对于其余衬度带，可根据两相交衬度带的夹角及其宽度比值，就可以依次确定其晶面指数......”。

2、以下这些语句存在多处问题，具体涉及到语法误用、标点符号运用不当、句子表达不流畅以及信息表述不全面——“.....背散射电子少。当入射角小于布拉格角时，位于反射面上的波占优势，电子容易被反射，因而背散射电子数目多。所以，当入射电子束相对于晶面以布拉格角为中心连续地改变其扫描角度时，与入射束扫描角同步的背反射电子就会在荧光屏上显示出与面相对应的强度极大和极小。图电子通道花样形成示意图因为在晶体中包含不同指数的晶面，而这些晶面具有不同的布拉格角，因此，入射束做面扫描时，将在不同扫描点上产生与各自晶面相对应的的区域......”。

3、以下这些语句在语言表达上出现了多方面的问题，包括语法错误、标点符号使用不规范、句子结构不够流畅，以及内容阐述不够详尽和全面——“.....利用背散射电子信息成像，可获得较强的衬度效应。随着被分析晶体污染程度的增加和晶体完整性的降低，花样会变得模糊不清，甚至消失。花样的测量和计算对于电子通道花样的几何测量确定投射原点的位置这是进行切几何测量的基本参考点。用实验方法确定，采取把扫描线圈的帧扫描和行扫描电源分别依次中断的办法，在荧光屏上依次获得条水平扫描线和垂直扫描线，其交点即为投射原点。确定晶带轴极点的位置如果晶带轴平行于光轴，则投影原点和晶带轴的极点重合如果晶带轴不平行于光轴......”。

4、以下这些语句该文档存在较明显的语言表达瑕疵，包括语法错误、标点符号使用不规范，句子结构不够顺畅，以及信息传达不充分，需要综合性的修订与完善——“.....电子背散射花样入射电子束在晶体试样内点激发的散射电子波能再次相干散射，即菊池衍射。则是记录其在反射方向的衍射，得到也是菊池花样。图花样示意图晶带轴晶带轴晶带轴图电子背散射花样的观察系统和记录系统的几何配置方法示意图低出纳角位置高出纳角位置背反射电子荧光屏试样荧光屏位置相对于电子束在试样上照射位置的坐标图对电子背散射花样进行晶体学注释的结果例题如上所述......”。

5、以下这些语句存在多种问题，包括语法错误、不规范的标点符号使用、句子结构不够清晰流畅，以及信息传达不够完整详尽——“.....后者是由衍射产生。并且这种花样不随试样的水平移动而改变，而是随试样的倾转而倾转。基本原理电子通道花样是种同晶体结构和晶体取向有关的衬度效应。根据电子衍射动力学理论，如果电子束以靠近布拉格位置进入晶体，则其在晶体中的运动可用两支布洛赫波进行描述。其中支波沿反射面之间的路径传播，没有遭到大角度散射另只波沿着反射面传播，所以受到大角度散射。当入射电子束严格满足布拉格条件时，两支波的振幅相等。当入射角大于布拉格角时，位于反射面之间的波占优势......”。

6、以下这些语句存在多方面的问题亟需改进，具体而言：标点符号运用不当，句子结构条理性不足导致流畅度欠佳，存在语法误用情况，且在内容表述上缺乏完整性。——“.....图是纳米梯度粗晶样品拉伸断裂后纵截面观察是图中位置处真应变的扫描电镜照片。与分别是图中位置真应变和处真应变的图像。显示的是纳米晶粒经不同拉伸应变后发生的晶粒长大。第四节取向测定利用扫描电子显微镜进行晶体学分析的方法主要有电子通道花样分析技术电子背散射花样分析技术反射电子衍射技术射线科塞尔花样分析技术电子通道花样电子通道花样分析技术是借助于通道花样实现的。这种花样在形貌上类似于透射电子显微镜的菊池花样，尤其像反射菊池花样......”。

7、以下这些语句存在标点错误、句法不清、语法失误和内容缺失等问题，需改进——“.....由此即可确定待测试样的点阵常数。如果试样基体的点阵常数为已知，析出相的点阵常数是未知的话，分别以基体和析出相做标准试样和待测试样，即可确定析出相的点阵常数。用该方法还可以定出析出相的惯习面，以及它与基体之间的取向关系。研究不完整晶体时，也常使用标准电子通道花样法。电子通道花样的衬度随着晶体不完整程度的增加而下降，电子通道带变宽，甚至消失，有时还会出现通道带发生畸变或弯曲。因为晶体的不完整性可以用点缺陷的密度和位错密度来量度，所以......”。

8、以下文段存在较多缺陷，具体而言：语法误用情况较多，标点符号使用不规范，影响文本断句理解；句子结构与表达缺乏流畅性，阅读体验受影响——“.....确定等效投影距离。式中，为通道带的带宽,就是被分析晶体表面的晶体学方向。对于多晶试样，可以采用逐个晶粒取向的测定得出试样的织构需要选择有代表性的区域并测试足够数量的晶粒。点阵常数的测定把待测试样放在试样台上，再在其旁边放置合适的标准试样，然后依次记录下两个试样的电子通道花样。通过对花样的分析，分别求出待测试样和标准试样的面间距和衍射角。由于两个试样的实验条件相同，所以由于标准试样的是已知的，因此可以推算出，同理......”。

9、以下这些语句存在多方面瑕疵，具体表现在：语法结构错误频现，标点符号运用失当，句子表达欠流畅，以及信息阐述不够周全，影响了整体的可读性和准确性——“.....电子通道花样的特点电子通道花样出现的条件晶体比较完整，电子束的扫描范围大于布拉格角。电子通道花样衬度远比般扫描电子像的衬度弱，利用背散射电子信息成像，可获得较强的衬度效应。随着被分析晶体污染程度的增加和晶体完整性的降低，花样会变得模糊不清，甚至消失。花样的测量和计算对于电子通道花样的几何测量确定投射原点的位置这是进行切几何测量的基本参考点。用实验方法确定，采取把扫描线圈的帧扫描和行扫描电源分别依次中断的办法......”。